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波束采樣器
400-700納米高分辨率涂層
不同厚度的直徑獲得報價
波束采樣器用于通過使用未涂布表面的菲涅耳反射來提取光束樣品。波束采樣器用于監測必須盡量減少傳輸波束擾動的應用。背面是楔形的,以避免內部條紋和防反射涂布去除幽靈圖像。定制尺寸和防反射涂料可根據特殊要求提供。
規格和公差
文件/圖紙
曲線圖
相關產品
物質的: BK7或等效和熔熔二氧化硅
表面質量: 40 - 20 ( scratch-dig )
尺寸公差: +0.00, -0.2 nm
厚: ± 0.2 mm
透明孔徑: 90 %
表面平坦度: λ / 4 @ 632.8 nm
Reflectance, R 平均值: 5% @ 45°
楔形物: 30+10弧分
覆蓋的: 正面:-無涂層
Back surface :- anti-reflection @ 400 - 700nm
型號編號直徑(毫米)厚度(毫米)物質的Price ($)
HO-BS-N-12.512.53BK7或相當的29.00
HO-BS-F-12.512.53二氧化硅42.00
HO-BS-N-25255BK7或相當的49.00
HO-BS-F-25255二氧化硅84.00
HO-BS-N-50508BK7或相當的80.00
HO-BS-F-50508二氧化硅187.00
400-700納米高分辨率涂層
不同厚度的直徑獲得報價
波束采樣器用于通過使用未涂布表面的菲涅耳反射來提取光束樣品。波束采樣器用于監測必須盡量減少傳輸波束擾動的應用。背面是楔形的,以避免內部條紋和防反射涂布去除幽靈圖像。定制尺寸和防反射涂料可根據特殊要求提供。
規格和公差
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物質的: BK7或等效和熔熔二氧化硅
表面質量: 40 - 20 ( scratch-dig )
尺寸公差: +0.00, -0.2 nm
厚: ± 0.2 mm
透明孔徑: 90 %
表面平坦度: λ / 4 @ 632.8 nm
Reflectance, R 平均值: 5% @ 45°
楔形物: 30+10弧分
覆蓋的: 正面:-無涂層
Back surface :- anti-reflection @ 400 - 700nm
型號編號直徑(毫米)厚度(毫米)物質的Price ($)
HO-BS-N-12.512.53BK7或相當的29.00
HO-BS-F-12.512.53二氧化硅42.00
HO-BS-N-25255BK7或相當的49.00
HO-BS-F-25255二氧化硅84.00
HO-BS-N-50508BK7或相當的80.00
HO-BS-F-50508二氧化硅187.00
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