菲希爾XULM240 FISCHER代理核心測量性能
菲希爾X射線測厚儀XULM240寬泛量程與高精度
可測量從超薄鍍層(如50nm金層)到厚鍍層(如100μm錫層)
標準校準下精度達±5%(如Au層>0.1μm時),無校準模式精度±10%
重復精度優異,例如80nm金層的重復性誤差僅±2.5nm
微區測量能力
微聚焦X射線管設計,最小測量點達100μm(0.09×0.09mm2),適合連接器、PCB微線路等微小結構
比例計數器支持高達數千cps的計數率,提升測量效率
多層與合金分析
支持單層、雙層(含合金層)、三層鍍層測量(如Cr/Ni/Cu/ABS)
通過基本參數法(FP法)無需標準片即可分析固態/液態樣品成分
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