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產(chǎn)品介紹|Bruker M4 TORNADO PLUS XRF成像光譜儀
Bruker M4 TORNADO PLUS
用于超輕元素分析的微區(qū)XRF成像光譜儀
更多產(chǎn)品資料，聯(lián)系上海爾迪儀器科技有限公司
M4 TORNADO PLUS能夠檢測(cè)、分析從碳（C）到镅（Am）全元素的微區(qū)XRF成像光譜儀。作為久經(jīng)驗(yàn)證、市場(chǎng)的M4 TORNADO微區(qū)XRF分析儀系列的成員，M4 TORNADO PLUS還具備多項(xiàng)創(chuàng)新功能，例如：創(chuàng)新的孔徑管理系統(tǒng)、超高通量脈沖處理器以及靈活的快速更換樣品臺(tái)。
產(chǎn)品特點(diǎn)
·兩個(gè)大面積硅漂移探測(cè)器（SDD），配備超輕元素窗口
·高性能X射線管，增強(qiáng)低能量激發(fā)
·超高通量脈沖處理器
·zhuan利孔徑管理系統(tǒng)（AMS）
·快速更換樣品臺(tái)（可選多種樣品支架）
·第二X射線管，配備自動(dòng)四位置準(zhǔn)直器切換裝置（選配）
·可編程氦氣吹掃系統(tǒng)（選配）
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
·輕元素檢測(cè)下限至碳（C）
·提升輕元素檢測(cè)效率
·縮短采集時(shí)間，提升分析效率
·高景深設(shè)計(jì)，確保表面形貌復(fù)雜樣品成像時(shí)更多特征與細(xì)節(jié)清晰聚焦
·縮短樣品更換與系統(tǒng)準(zhǔn)備時(shí)間
·高能譜線分析靈活性更高
·常壓環(huán)境下實(shí)現(xiàn)輕元素分析性能
儀器亮點(diǎn)
M4 TORNADO PLUS 通過(guò)采用配備超輕元素窗口的大面積硅漂移探測(cè)器（SDD）及超高通量脈沖處理器，實(shí)現(xiàn)了對(duì)碳（C）以上輕元素的高效檢測(cè)，并大幅提升了采集速度。其zhuan利孔徑管理系統(tǒng)（AMS）可提供景深性能，即使是表面形貌復(fù)雜的樣品也能實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)分析。
得益于低能量范圍內(nèi)顯著增強(qiáng)的靈敏度，鈉 （Na）至氯（Cl）元素的檢測(cè)性能大幅提升，與入門級(jí)微區(qū)XRF系統(tǒng)相比，典型計(jì)數(shù)率（cps）增幅高達(dá)20倍。
憑借這些性能突破，前沿研發(fā)領(lǐng)域可受益于高速微區(qū)XRF面掃描。
產(chǎn)品規(guī)格
樣品類型 | 固體、顆粒、液體 |
樣品室尺寸 | W x D x H: 600 mm x 350 mm x 260 mm |
樣品臺(tái) | W x D: 330 mm x 170 mm, 最大載重： 7 kg |
測(cè)量氣體 | 空氣環(huán)境或可調(diào)真空（配備無(wú)油泵，約3分鐘可達(dá)2毫巴），可選氦氣吹掃系統(tǒng) |
樣品行程 | 最大行程： W x D x H: 200 mm x 160 mm x 120 mm 掃描行程： W x D: 190 mm x 160 mm 移動(dòng)速度：采用TurboSpeed樣品臺(tái)時(shí)最高可達(dá)100 mm/s |
樣品視圖 | 雙路實(shí)時(shí)俯視成像系統(tǒng)（不同放大倍率）實(shí)現(xiàn)樣品概覽與精確定位，側(cè)向魚眼鏡頭提供樣品室全景監(jiān)控 |
激發(fā) | 第一X射線管：高亮度、輕元素微焦斑X射線管，配備多導(dǎo)毛細(xì)管X射線光學(xué)系統(tǒng)和孔徑管理系統(tǒng)（AMS） 靶材：銠（Rh），可選銀（Ag） 管參數(shù)：50 kV，30 W 光斑尺寸：使用多導(dǎo)毛細(xì)管透鏡時(shí)，≤20μm (Mo Kα @17.5 keV) 濾光片：8種激發(fā)濾光片可選第二X射線管：細(xì)聚焦X射線管，配備四位置準(zhǔn)直器切換裝置，準(zhǔn)直器尺寸從0.5 mm到4.5 mm 靶材：鎢（W），可選銠（Rh）、鉬（Mo）、銅（Cu）、鉻（Cr） 管參數(shù)：50 kV，40 W 濾光片：8種激發(fā)濾光片 |
探測(cè)器 | XFlash®超輕元素硅漂移探測(cè)器，可檢測(cè)從碳（C）到镅（Am）的元素，支持雙探測(cè)器 。 敏感區(qū)域面積：2 x 60 mm2； 能量分辨率：< 145 eV（在輸入計(jì)數(shù)率為 600,000 cps 時(shí)）； 吞吐量：最高可達(dá) 550,000 cps 輸出計(jì)數(shù)率 |
儀器控制 | 先進(jìn)的PC，Windows®操作系統(tǒng) X射線管參數(shù)、濾光片、光學(xué)顯微鏡、樣品照明及樣品定位全面控制 |
光譜評(píng)估 | 峰識(shí)別、偽影與背景校正、峰面積計(jì)算、FP定量分析，使用 XMethod 進(jìn)行基于標(biāo)樣和無(wú)標(biāo)樣的校準(zhǔn)定量分析 |
分布分析 | “On the fy” 測(cè)量，HyperMap功能 |
結(jié)果呈現(xiàn) | 定量分析結(jié)果，統(tǒng)計(jì)評(píng)估，元素分布（線掃描，面掃描） |
電源要求 | 100 - 240 V (1P), 50/60 Hz |
尺寸和重量 | W x D x H: 815 mm x 680 mm x 580 mm, 130 kg* |
質(zhì)量與安全 | DIN EN ISO 9001:2015, CE 認(rèn)證，UKCA 認(rèn)證；全面輻射防護(hù)系統(tǒng)；輻射量 < 1 μSv/h |
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