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鹽霧噴嘴作為鹽霧試驗箱的核心部件，其堵塞會導致鹽霧沉降量異常、粒徑分布不均，使測試結果偏差超過 15%，嚴重影響材料腐蝕性能評估的準確性。本文系統剖析噴嘴堵塞的多維成因，構建 “三級診斷體系”，并提出標準化疏通流程與全周期預防策略，為設備維護提供技術支撐。實踐表明，采用該技術體系可使噴嘴堵塞頻率降低 70%，維護效率提升 50%。
（一）鹽結晶沉積
當鹽溶液濃度超過 5% 或噴霧壓力低于 0.08MPa 時，鹽霧在噴嘴內壁蒸發速率加快，氯化鈉晶體易沉積形成結垢。顯微鏡觀察顯示，結垢層呈立方體狀晶體堆積，厚度超過 0.3mm 時會使噴嘴內徑縮小 20% 以上。
（二）水質雜質堵塞
使用電導率＞20μS/cm 的非去離子水時，鈣鎂離子與氯離子結合生成碳酸鈣、氫氧化鎂等沉淀物。掃描電鏡（SEM）分析表明，雜質顆粒尺寸多在 5-50μm，易卡在噴嘴節流孔處形成堵塞。
（三）微生物污染
長期未使用的設備中，鹽溶液殘留會滋生嗜鹽菌，其代謝產物與鹽結晶混合形成生物膜。檢測顯示，生物膜中活菌數超過 10^4CFU/mL 時，會導致噴嘴流量下降 30% 以上。
（四）操作不當影響
噴霧結束后未用去離子水沖洗噴嘴，殘留鹽溶液加速結晶；設備停機時未泄壓，高壓氣體使鹽霧倒灌至噴嘴內部，均會加劇堵塞風險。
二、三級診斷體系構建
（一）初級流量檢測
通過轉子流量計監測噴霧流量，當實測值較標準值偏差＞10% 時，判定噴嘴可能堵塞。標準噴霧流量應根據試驗箱容積設定，如 1000L 箱體推薦流量為 1-2mL/80cm2?h。
（二）中級顯微觀察
拆卸噴嘴后用 100 倍體視顯微鏡觀察節流孔，若發現晶體沉積、雜質附著或生物膜附著，需進一步清洗。正常噴嘴內孔應光滑無異物，孔徑公差控制在 ±0.02mm。
（三）深度光譜分析
對頑固堵塞物進行 X 射線能譜（EDS）分析，確定成分類型。若檢測到 Ca、Mg 元素含量＞5%，判定為水質結垢；檢測到 C、N 元素占比＞30%，則為生物污染所致。
三、標準化疏通流程
（一）物理清洗法
超聲波清洗：將噴嘴浸泡于去離子水（電導率＜5μS/cm）中，在 40kHz 頻率下清洗 15-20 分鐘，功率密度控制在 0.5-1W/cm2，可有效去除鹽結晶。
氣壓脈沖疏通：使用 0.3-0.5MPa 干燥壓縮空氣，配合直徑 0.1mm 的鎢鋼探針，從噴嘴出口反向脈沖吹掃，清除節流孔內雜質。
（二）化學清洗法
酸性溶液浸泡：針對鈣鎂結垢，用 5% 檸檬酸溶液（pH=3.5）在 60℃下浸泡 2 小時，反應后用去離子水沖洗 3 次。
堿性滅菌處理：生物污染時，使用 0.1% 氫氧化鈉溶液（pH=13）浸泡 30 分鐘，再用 3% 過氧化氫溶液消毒 15 分鐘。
（三）疏通后性能驗證
疏通后需進行流量校準，在 0.1MPa 噴霧壓力下，30 分鐘內流量波動應＜5%；采用激光粒度儀檢測鹽霧粒徑，應符合 1-5μm 占比＞80% 的標準要求。
四、全周期預防策略
（一）三級保養機制
日常維護：每次試驗結束后，用 500mL 去離子水沖洗噴嘴，持續噴霧 5 分鐘；每周用酒精棉擦拭噴嘴外表面，清除鹽漬殘留。
季度保養：拆卸噴嘴進行顯微檢查，用 0.05mm 針規檢測孔徑，偏差超過 ±0.03mm 時更換；使用電導率儀監測鹽溶液純度，超標時立即更換。
年度大修：對噴嘴進行鍍層厚度檢測（推薦 Ni-P 鍍層厚度≥20μm），磨損嚴重時需重新電鍍或更換。
（二）智能預警系統
在噴嘴入口處安裝壓力傳感器（精度 ±0.5% FS）與流量傳感器，當壓力波動＞8% 或流量下降＞10% 時，系統自動觸發預警，并記錄堵塞歷史數據，形成維護周期預測模型。
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