Sunlonge半導體缺陷檢測燈SL8500主要用于人工檢測掩膜板、襯底、外延片表面缺陷瑕疵，檢測步驟如下，更多關(guān)于半導體缺陷檢測請咨詢深圳熒鴻。

襯底缺陷檢測檢測步驟

檢測半導體襯底表面瑕疵前先對表面瑕疵檢測燈進行設(shè)置，瑕疵檢測燈燈頭高度與檢測臺之間距離為30-40cm，角度為垂直90度，放置黑色背景板于檢測臺上，打開瑕疵檢測燈并將亮度調(diào)到頂。采用懸空測試法，手拿半導體襯底放置于檢測燈與黑色背景板之間，半導體襯底與背景板之間的距離為15-20cm之間，半導體襯底與水平方向保持30-60度夾角（不同燈不一樣）。檢測瑕疵時，檢測員需要慢慢調(diào)整襯底與水平角度以尋找適合的瑕疵點。

外延片表面缺陷檢測步驟：

1-在檢測臺放置黑色背景板

2-將SL8500檢測燈燈頭調(diào)整距離檢測臺40cm，燈頭與檢測臺角度為垂直90度（不同的燈不一樣）

3-接通電源，打開SL8500檢測燈并將亮度調(diào)到頂

4-將外延片置于檢測臺上并與水平角度保持一定角度（角度可見使用說明）

5-檢測員不斷調(diào)整外延片與水平的角度直到找到適合的檢測視角

掩膜版表面瑕疵檢測步驟：

在檢測臺放置黑色背景板

打開SL8500檢測燈并將檢測燈亮度調(diào)到頂

將掩膜版懸空放置于SL8500瑕疵檢測燈與檢測臺之間，保持與檢測臺15cm距離，與水平保持30-60°的角度（不同檢測燈不一樣）

檢測員不斷調(diào)整掩膜版直到找到最合適的檢測效果角度