Zeta納米電位儀通常是指同時具備納米粒度分析和Zeta電位測量功能的光散射類儀器,其核心用途是表征膠體、納米顆粒或生物大分子在溶液中的粒徑分布和表面電荷(Zeta電位),從而評估體系穩定性和分散行為。
Zeta納米電位儀的測量精度取決于儀器型號和測量技術,但主流設備在粒度和Zeta電位兩項指標上均具備亞微米級甚至納米級的高精度表現,具體如下:
粒度測量精度
典型精度:±1%(相對誤差)
高級型號:通過多角度動態光散射(MADLS)技術,分辨率更高,重復性顯著提升
驗證標準:使用NIST可追溯膠乳標準品,準確度可達±2%
Zeta電位測量精度
典型精度:±3%(相對誤差)
高靈敏度技術:采用PALS(相位分析光散射)或M3-PALS技術,靈敏度提升1000倍,適用于低遷移率或高鹽樣品
實測驗證:以NISTSRM1980標準水性體系為例,Zeta電位測得值為2.53±0.12μm·cm/V·s,誤差小于5%
關鍵影響因素
溫控精度:±0.1°C,有效減少熱漂移誤差
最小樣品量:部分型號僅需20–50μL,降低稀釋誤差
電導率范圍:最高支持260mS/cm,適應高鹽體系
如需進行高精度Zeta電位測量,建議使用具備PALS或M3-PALS技術的型號,并確保樣品分散均勻、濃度適中。
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