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高溫熱釋電測試系統是一種用于測量熱釋電材料在高溫環境下熱釋電系數的精密儀器，通過分析材料在溫度變化時產生的表面電荷變化來評估其熱釋電性能。
熱釋電效應是指材料在溫度變化時，其自發極化強度發生變化，從而在與極化方向垂直的晶體表面產生感應電荷的現象。高溫熱釋電測試系統通過測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放的熱釋電電流，結合溫度變化率，計算得到材料的本征熱釋電系數。
功能：
測量熱釋電系數：在均勻升溫過程中，通過檢測材料釋放的電流計算本征熱釋電系數，適用于薄膜、厚膜、單晶、陶瓷等不同形態的材料。
溫度控制：可實現RT(室溫)至400℃的高溫環境控制，控溫精度達±0.1℃，支持1~10℃/min的升降溫速率。
數據采集與分析：自動記錄升溫過程中的熱釋電電流變化曲線，并生成測試報告，便于科研或工業應用中的性能評估。
應用領域
紅外探測領域：熱釋電材料是紅外探測器的核心材料之一，高溫熱釋電測試系統可用于評估紅外探測器的性能。
激光測量領域：利用熱釋電效應測量激光脈沖的能量和功率等參數。
材料科學研究：研究熱釋電材料的性能與溫度之間的關系，為材料設計和優化提供依據。
其他領域：如輻射計、光譜儀等設備的研發和測試中，也廣泛應用高溫熱釋電測試系統。
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