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探針顯微冷熱臺(tái)是一種用于多領(lǐng)域微觀研究的溫控平臺(tái)
探針顯微冷熱臺(tái)是結(jié)合探針測(cè)試與溫度控制的科學(xué)儀器，主要用于半導(dǎo)體器件在高溫/低溫環(huán)境下的電性能測(cè)試。可實(shí)現(xiàn)-190℃至+600℃的準(zhǔn)確控溫，支持快速升溫/降溫(1-200℃/min)，適用于材料燒結(jié)、熔點(diǎn)分析等實(shí)驗(yàn)。配備精密探針系統(tǒng)，支持直流/射頻測(cè)試，可測(cè)量芯片電阻、可靠性測(cè)試及高溫/低溫環(huán)境下的溫度特性測(cè)試。 與光學(xué)顯微鏡兼容，可觀察流體包裹體、熔融包裹體等微觀結(jié)構(gòu)變化，適用于礦物學(xué)、材料科學(xué)等領(lǐng)域。
其核心功能在于：
寬溫域控制：通過(guò)液氮制冷、電阻加熱或半導(dǎo)體制冷(Peltier效應(yīng))技術(shù)，實(shí)現(xiàn)-190℃至1000℃的寬溫區(qū)調(diào)控。
探針電學(xué)測(cè)試：配備X/Y/Z三軸精密位移平臺(tái)(如位移精度≤1μm)，支持探針與樣品表面微米級(jí)對(duì)準(zhǔn)，實(shí)現(xiàn)電導(dǎo)率、IV曲線(xiàn)等電學(xué)性能測(cè)試。例如，在半導(dǎo)體器件研究中，可準(zhǔn)確測(cè)量晶圓級(jí)樣品在不同溫度下的電學(xué)特性。
顯微成像協(xié)同：集成光學(xué)透明窗口(如藍(lán)寶石玻璃)或透光孔設(shè)計(jì)，兼容光學(xué)顯微鏡、熒光顯微鏡及拉曼光譜儀等設(shè)備，實(shí)現(xiàn)樣品在溫變過(guò)程中的微觀結(jié)構(gòu)實(shí)時(shí)觀察。例如，在材料科學(xué)中，可觀測(cè)高分子材料在相變過(guò)程中的晶格結(jié)構(gòu)變化。
應(yīng)用場(chǎng)景
半導(dǎo)體測(cè)試：評(píng)估芯片在**溫度下的電性能穩(wěn)定性。
材料研究：研究熱膨脹系數(shù)、相變溫度等熱物理特性。
工業(yè)檢測(cè)：汽車(chē)零部件、電子元件的耐溫可靠性測(cè)試。
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