恒溫恒濕試驗箱用途:

恒溫恒濕試驗箱適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗； 恒溫恒濕試驗箱是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設備； 恒溫恒濕試驗箱特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗。

恒溫恒濕試驗箱執(zhí)行標準：

* GJB150.3-86軍用設備環(huán)境試驗方法    高溫試驗

* GJB150.4-86軍用設備環(huán)境試驗方法    低溫試驗

* GJB150.5-86軍用設備環(huán)境試驗方法    濕度試驗

* IEC60068-2-1.1990低溫試驗箱試驗方法

* IEC60068-2-2.1974高溫試驗箱試驗方法

* GB10586-2006  濕熱試驗箱技術條件 

* GB10589-89  低溫試驗箱技術條件

* GB10592-89  高低溫試驗箱技術條件

* GB/T10592-89  高低溫試驗箱技術條件

* GB11158  高溫試驗箱技術條件

* GB/2423.22-2001溫度變化試驗方法

* GB/T2424.6-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  溫度/濕度試驗箱性能確認

* GB/T2423.4-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  試驗Db： 交變濕熱試驗方法 

* GB/T2423.34-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗，試驗方法試驗Z/AD：溫度/濕度 組合循環(huán)試驗

* GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 : 試驗方法  試驗A：低溫 

* GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗:  試驗方法  試驗B;  高溫 

* GB/T2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  試驗Cab 恒定濕熱試驗 

* GB/T2424.1-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  高溫低溫試驗導則

* GB/T2424.2-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  濕熱試驗導則

* GB/T2424.5-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  溫度試驗箱性能確認 

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