電能表標準和國家標準：
國家標準對應的標準
GB/T 17215.211-2006
交流電測量設備 通用要求、試驗和試驗條件 第11部分：測量設備 IEC 62052-11:2003
GB/T 17215.311-2008
交流電測量設備 特殊要求 第11部分：機電式有功電能表（0.5、1和2級） IEC62053-11:2003
GB/T 17215.321-2008
交流電測量設備 特殊要求 第21部分：靜止式有功電能表（1級和2級） IEC62053-21:2003
GB/T 17215.322-2008
交流電測量設備 特殊要求 第22部分：靜止式有功電能表（0.2S級和0.5S級） IEC62053-22:2003
GB/T 17215.323-2008
交流電測量設備 特殊要求 第23部分：靜止式無功電能表（2級和3級） IEC62053-23:2003
GB/T 17215.301-2007
多功能電能表 特殊要求  /
GB/T 15284-2002
多費率電能表 特殊要求 /
GB/T 18460.3 -2001
IC卡預付費售電系統  第3部分：預付費電度表 /
電能表功能測試：
 開關外置
外置開關控制方式
合閘方式
保電/保電解除
保電狀態下不能拉閘；
處于拉閘狀態的電能表，接收到保電命令，應允許合閘。
合閘后保電解除？
保電狀態與報警狀態相對獨立。
繼電器狀態檢測
檢測電壓（直接接入式電能表脫鉤校驗）
檢測電流（合閘失敗檢測）
電能表高溫老化房主要功能：為了達到滿意的合格率，幾乎所有產品在出廠前都要先藉由電能表老化。制造商如何才能夠在不縮減老化時間的條
件下提高其效率？本文介紹在老化過程中進行功能測試的新方案，以降低和縮短老化過程所帶來的成本和時間問
題。 
電能表高溫老化房在半導體業界，器件的老化問題一直存在各種爭論。像其它產品一樣，半導體隨時可能因為各種原因而出現故障，電能表老化就是藉由讓半導體進行超負荷工作而使缺陷在短時間內出現，避免在使用早期發生故障。如果不藉由老化，很多半導體成品由于器件和制造制程復雜性等原因在使用中會產生很多問題。 在開始使用后的幾小時到幾天之內出現的缺陷(取決于制造制程的成熟程度和器件總體結構)稱為早期故障，
電能表老化之后的器件基本上要求100%消除由這段時間造成的故障。準確確定老化時間的*方法是參照以前收集到的老化故障及故障分析統計數據。