X熒光光譜儀的簡單介紹
       x熒光分析已廣泛應(yīng)用于材料、冶金、地質(zhì)、生物醫(yī)學(xué)、環(huán)境監(jiān)測、天體物理、文物考古、刑事偵察、工業(yè)生產(chǎn)等諸多領(lǐng)域，是一種快速、無損、多元素同時測定的分析技術(shù)，可為相關(guān)生產(chǎn)企業(yè)提供一種可行的、低成本的、及時的檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑。本文就x熒光光譜儀的工作原理及其應(yīng)用做簡單介紹。
       （一）、X熒光光譜儀簡單介紹之---x熒光的基本原理：當(dāng)一束高能粒子與原子相互作用時，如果其能量大于或等于原子某一軌道電子的結(jié)合能，將該軌道電子逐出，對應(yīng)的形成一個空穴，使原子處于激發(fā)狀態(tài)。此后在很短時間內(nèi)，由于激發(fā)態(tài)不穩(wěn)定，外層電子向空穴躍遷使原子恢復(fù)到平衡態(tài)，以降低原子能級。當(dāng)較外層的電子躍遷（符合量子力學(xué)理論）至內(nèi)層空穴所釋放的能量以輻射的形式放出，便產(chǎn)生了x熒光。x熒光的能量與入射的能量無關(guān)，它只等于原子兩能級之間的能量差。由于能量差*由該元素原子的殼層電子能級決定，故稱之為該元素的特征x射線，也稱熒光x射線或x熒光。 x熒光光譜法就是由x射線光管發(fā)生的一次x射線激發(fā)樣品，試樣可以被激發(fā)出各種波長的特征x射線熒光，需要把混合的x射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的x射線的強度，以進行定性和定量分析的方法。該方法是一種非破壞性的分析方法，常用的有能量色散型和波長色散型兩種類型。
（二）、X熒光光譜儀簡單介紹之---X熒光光譜儀主要用途
X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強度，也可以獲得各元素的含量信息。
近年來，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應(yīng)用得zui多也zui廣泛。
大多數(shù)分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。
（三）、 X熒光光譜儀簡單介紹之---X熒光光譜儀的優(yōu)缺點
1、優(yōu)點
1) 分析時間短。測定用時與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
2) 適用范圍廣。X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定 。
3) 非破壞分析，重現(xiàn)性好。在測定中不會引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。
4) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析。
5) 分析精密度高。
6) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
2、缺點
1）難于作分析，故定量分析需要標(biāo)樣。
2）對輕元素的靈敏度要低一些。
3）容易受相互元素干擾和疊加峰影響。