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測(cè)試材料孔徑的方法有多種，氮吸附法，壓汞法，泡壓法等。但是測(cè)試膜的孔徑的方法是使用泡壓法（氣液驅(qū)排法）進(jìn)行測(cè)試。原因如下：
一、氮吸附法的缺點(diǎn)
1、孔徑范圍：0.35-500nm，對(duì)于微米級(jí)別的孔無(wú)法測(cè)試。
2、隔膜的氮吸附也是會(huì)有很大的誤差的，原因是隔膜的內(nèi)外表面平滑，比表面小，吸附量小，因此誤差很大。
3、隔膜材料中通孔的孔喉直徑(即通孔zui窄處的直徑)是zui關(guān)鍵，zui重要的，而氮吸附測(cè)試的是材料的通孔和盲孔，所以孔徑測(cè)試誤差會(huì)很大。
二、壓汞法的缺點(diǎn)
1、孔徑范圍：50nm-500um；如果想測(cè)試較小孔徑，如100nm以下，需要非常大的壓力（20MPa以上）才能把汞注入材料孔道內(nèi)，這樣大的壓力是一般材料承受的，在高壓下，膜材料的孔結(jié)構(gòu)會(huì)變形甚至壓垮，致使結(jié)果偏離理論值；但是對(duì)于泡壓法，對(duì)材料施加的壓力要小得多，一般在0.1MPa以下。
2、同氮吸附一樣，壓汞法測(cè)試的也是通孔和盲孔，而非孔喉處的直徑
三、泡壓法
1、測(cè)試孔徑范圍是10nm-500um；
2、測(cè)試的是通孔的孔喉處的直徑(zui小孔徑)、zui大孔徑、平均孔徑、孔徑分布及滲透率；
3、測(cè)試原理適用于測(cè)試膜材料通孔孔徑
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