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束蘊儀器(上海)有限公司

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  • 2024

    06-27

    應用分享 | 反光電子能譜IPES專輯之原理篇

    固體的電學、光學和化學性質深受其占據(jù)態(tài)(occupiedstate)和非占據(jù)態(tài)(unoccupiedstate)電子結構的共同影響。在半導體材料中,費米能級兩側的電子結構對雜質摻雜、能帶調控以及器件的研發(fā)與應用至關重要,尤其是非占據(jù)態(tài)能級結構,它直接決定了電荷的轉移和輸運性能。雖然占據(jù)態(tài)的電子信息可通過光電子能譜,如XPS和UPS來解析,但由于非占據(jù)態(tài)沒有電子填充,傳統(tǒng)的光電效應方法無法有效獲取其能帶信息。為了深入探索非占據(jù)態(tài)的信息,我們需要借助反光電子能譜(InversePhotoelectr
  • 2024

    06-27

    應用分享 | AES在月壤研究中的應用

    面是指固體表面一個或數(shù)個原子層的區(qū)域,是與外界進行物質交換和能量交換的通道,其性質(如化學組成、原子排列、電子狀態(tài)等)與體相具有諸多不同,但是材料的表面行為往往決定了材料/器件的功用和性能。因此,表面分析對于新材料、新技術的研發(fā)至關重要。常用的表面分析技術主要有XPS、AES和TOF-SIMS等,其中,AES技術能夠實現(xiàn)對納米尺度特征的表面進行化學分析。俄歇電子能譜儀(AugerElectronSpectroscopy,AES)采用場發(fā)射電子源入射樣品的表面,激發(fā)出二次電子(用于形貌觀察)以及俄
  • 2024

    06-27

    應用分享 | 二次離子質譜中的基體效應

    在使用二次離子質譜(SIMS)技術對樣品進行定量分析時,常遇到一系列棘手的問題:即便在濃度相同、測試條件一致的情況下,同一組分在不同的化學環(huán)境中二次離子產(chǎn)額可能跨越幾個數(shù)量級;此外,即便同一組樣品,使用相同設備和實驗條件、在不同時間段內測到的二次離子信號強度也可能會有所差異。在SIMS分析中,常將實驗條件和樣品化學性質差異等因素導致二次離子產(chǎn)額發(fā)生變化的現(xiàn)象統(tǒng)稱為基體效應(matrixeffect)。在這期文章,我們將介紹SIMS分析中的基體效應,并分析基體效應對SIMS測試和定量分析所帶來的影
  • 2024

    06-13

    應用分享 | AES在鈦合金增材制造中的應用

    Ti-6Al-4V是一種典型的α+β型兩相鈦合金,在航空、醫(yī)療器械、艦船等方面應用普遍。鑒于鈦對氧的親和性好,電子束熔煉(EBM)是鈦合金增材制造推薦工藝。然而,在EBM工藝中,只有部分粉末會熔化和凝固,為節(jié)省成本,合理利用資源,對于用過的且符合特定化學成分的Ti-6Al-4V粉末需要進行篩分、回收和重復利用。為進一步研究Ti-6Al-4V粉末在重復使用過程中表面局部位置形貌和化學變化,本案例對多次回收的粉末做了詳盡的AES(PHI700)和XPS(PHI5000VersaProbeIII)表征
  • 2024

    06-13

    應用分享 | 淺談光學帶隙和電學帶隙差異

    帶隙(BandGap),亦被稱為禁帶寬度,是半導體材料的重要參數(shù)之一。它不僅揭示了價電子被束縛的緊密程度,還是衡量半導體光學性能*與否的重要指標。此外,帶隙決定了激發(fā)該半導體所必須的較小能量閾值。在光電轉換器件,如太陽能電池和發(fā)光二極管等領域,帶隙的測量對深入理解半導體的電學和光學特性,以及探索其實際應用價值,具有不可替代的物理和現(xiàn)實意義。過去,科研人員主要通過循環(huán)伏安法或結合UPS與光學吸收法來測量帶隙和能級排列。然而,隨著反光電子能譜技術(InversePhotoemissionSpectr
  • 2024

    06-13

    應用分享 | 全固態(tài)電池截面的原位 FIB 加工和分析

    鋰離子電池具有自放電小、開路電壓高、能量密度大、循環(huán)壽命長等優(yōu)點,自問世以來就備受關注。但是,鋰離子電池采用含有機溶劑的液體電解質,存在不容忽視的安全隱患。對此,全固態(tài)電池(ABBS)應運而生,因其電解質在內的所有組件都是固態(tài)的,在安全性和熱穩(wěn)定性上有著明顯優(yōu)勢,已然成為新能源、儲能技術、材料科學等領域的研究熱點。然而,電極與固體電解質之間的界面存在著來源尚不明確的電阻,成為影響ABBS實際應用的較大障礙之一。因此,利用有效的表面分析技術研究SE/陰極界面的相互作用,對提高全固態(tài)電池的性能至關必
  • 2024

    05-29

    應用分享 | 使用高分辨率表面光電壓(SPV)光譜分析SiC晶圓的表面質量

    具有寬帶隙的碳化硅基半導體,在制備各種高頻、高溫和大功率電子器件方面具有非常有前景。因此,提高SiC晶圓的質量,解決SiC制造工藝的高成本和低成品率是目前工業(yè)生產(chǎn)緊迫的問題之一[1]。而對于在線批量生產(chǎn),檢測SiC晶圓的質量不能不能對其表面產(chǎn)生損傷,因此需要使用高分辨率、非破壞性表面檢測技術。表面光電壓(SPV)技術是一種研究光活性材料中電荷分離和轉移過程的先進方法[2]。光生載流子在空間上的分離和表面光生載流子的演化有關。因此,該技術靈敏度高、非接觸式并且在表面監(jiān)測中不具有破壞性。此外,它還適
  • 2024

    05-29

    XRM應用分享 | 混凝土性能表征

    混凝土材料是一種不同于鋼材、瀝青等建筑材料的非均相復合結構,表現(xiàn)在微觀上,主要呈現(xiàn)出內部的多孔形態(tài)、微裂紋的不確定性以及骨料與水泥漿的界面效應等,即使是強度高性能混凝土,也會不同程度地含有微孔隙和微裂紋,這就使得對混凝土各組分微結構孔隙和性能進行試驗并調試變得尤為重要,而采用無損檢測技術,尤其是XRM技術對混凝土微結構孔隙及界面進行分析是當前逐步興起,并已證明是較為有效的一種檢測方法,具有精度高、可持續(xù)性好等諸多優(yōu)點。實例一利用XRM對再生混凝土的微觀結構進行表征,Skyscan1173,4.5
  • 2024

    05-29

    XRD應用分享 | 物相分析

    材料的性能往往由其物相(物相是指試樣中由各種元素形成的具有固定結構的化合物,也包括單質元素和固溶體)組成所決定,而不是簡單的與元素組成相關。比如都是由C組成的無定性碳、石墨、金剛石三種材料性能差別非常大。因此,分析材料的物相組成非常重要,而XRD作為物相分析的主要手段之一被廣泛應用。任何結晶物質均具有特定結晶結構(結晶類型,晶胞大小及質點種類,數(shù)目,分布)和組成元素。一種物質有自已衍射譜與之對應,多相物質的衍射譜為各個互不相干,單獨存在物相衍射譜的簡單疊加。本文以復雜的多相材料水泥為例,說明XR
  • 2024

    05-22

    XRM應用分享 | 農(nóng)林科學

    近些年來,XRM技術開始逐漸廣泛應用于土壤學和植物科學,研究土壤性質、土壤微生物對土壤性質的影響、植物根發(fā)育及其內部結構、內部養(yǎng)分運輸機制等等。而隨著發(fā)展的深入,目前XRM技術也開始被應用于植物地上結構的研究中。實例一木材內部多孔結構及木質部導管表征,BrukerSkyscan1273,7um.木材內部多孔結構正交三視圖及局部放大表征木材內部整體結構三維表征(左圖)木材木質部導管三維分布表征(右圖)實例二土壤內部孔隙結構三維表征及定量分析,BrukerSkyscan1275,15um.土壤樣品(
  • 2024

    05-22

    SC-XRD應用分享 | 藥物晶型和X射線衍射

    在藥物研發(fā)中,晶型研究貫穿著從先導化合物篩選到終的藥物上市的各個階段。同一藥物的不同晶型在外觀、溶解度、熔點、溶出度、生物有效性等方面可能會有明顯不同,從而影響藥物的穩(wěn)定性、質量、生產(chǎn)、生物利用度,療效以及安全性。從18世紀苯甲酰胺兩種晶型的發(fā)現(xiàn)開始,到創(chuàng)新藥“優(yōu)勢藥物晶型”的尋找,以及仿制藥“一致性評價”的需要,晶型研究已成為藥物研發(fā)過程中的重要內容之一。對于企業(yè)而言,藥物晶型定量研究除了對藥品質量控制有重大意義外,在知識產(chǎn)權方面,藥物晶型產(chǎn)權也是重點關注的內容。在商業(yè)層面上,晶型的充分研究可
  • 2024

    05-22

    XRD應用分享 | X射線反射率

    作為一種非破壞性的表面敏感技術,X射線反射率(XRR)普遍用于薄膜厚度和粗糙度的表征。當X射線的入射角高于臨界角時,X射線束可以部分地透射進薄膜從而在界面反射。在一個理想平面上,根據(jù)菲涅耳方程,X射線的反射率以系數(shù)下降。此外,反射強度也受薄膜表面和界面的粗糙度影響。納米尺度范圍的粗糙表面可因誘導的漫散射而進一步降低反射強度。因此,可以通過擬合XRR曲線來確定薄膜表面和界面的粗糙度。同時,表面和界面反射光束之間的干涉會在XRR曲線上產(chǎn)生周期性振蕩,即所謂的Kiessig條紋。通過測定振蕩周期可以計
  • 2024

    04-17

    應用分享 | 三維X射線顯微鏡(3D XRM/Micro CT)在食品科學研究中的應用

    MicroCT或3DXRM是一種非破壞性的成像技術,能夠提供物體內部結構的高分辨率三維圖像。這種技術在油氣地質醫(yī)學領域已經(jīng)非常成熟,但在食品科學的應用則是近年來才開始興起。它的非侵入性特點使科學家能夠不破壞食品樣品的情況下,觀察其內部結構和特性。這一技術對于理解食品的微觀結構,尤其是在加工、儲存、包裝過程中發(fā)生的變化至關重要。那么,MicroCT技術在食品科學中具體有哪些應用呢?1)結構分析與質構評估:食品的質地和口感往往與其微觀結構密切相關。利用XRM,科學家們能夠觀察食品內部的氣泡、纖維、孔
  • 2024

    04-17

    弗萊貝格PIDcon bifacial|雙面電池的可逆與不可逆PID快速測試解決方案

    論文來源:K.Sporlederetal.,QuicktestforreversibleandirreversiblePIDofbifacialPERCsolarcells部分摘要:雙面PERC電池背面PID會導致嚴重的功率損失。與單面PERC太陽能電池相比,可以發(fā)生可逆的去極化相關電位誘導衰退(PID-p)和不可逆的腐蝕電位誘導衰退(PID-c)。研究表明,一個可靠的評估太陽能電池功率損失的方法需要一種改進的PID測試方法,需要在高壓測試上附加光照。此外,還需要在測試方案中加入恢復步驟來將可逆
  • 2024

    03-26

    應用分享 | ESR5000 助力苯乙烯生產(chǎn)中的單體控制

    乙烯基單體(如苯乙烯)在其合成和純化的工業(yè)過程中,可能發(fā)生不被期望的聚合反應。為了避免這一現(xiàn)象,需要向單體反應體系中加入諸如2,2,6,6-四甲基哌啶-1-氧自由基(TEMPO)及其類似物的聚合抑制劑。TEMPO(圖1)是一種自由基化合物,它通過阻止自由基鏈式反應來抑制聚合反應(圖2)。典型工業(yè)單體,如丙烯酸酯、氯乙烯、丁二烯和苯乙烯,在加工及安全運輸和儲存過程中都需要聚合抑制劑。許多單體在工業(yè)上通過蒸餾法提純,因而可能導致熱引發(fā)聚合反應的發(fā)生。例如,苯乙烯在100℃以上的溫度下進行蒸餾時,會以
  • 2024

    03-20

    布魯克全新臺式D6 PHASER應用報告系列(三)—— 二維衍射

    粉末衍射中檢測所有帶有特征強度的晶面反射的一個基本要求是樣品架中要存在足夠數(shù)量的尺寸合適的晶粒且滿足統(tǒng)計學排列。二維衍射法則是一種很容易觀察到過大或過少晶粒的存在,以及它們的擇優(yōu)排列的有效方法。該應用報告顯示,一維LYNXEYE探測器可以與線聚焦的X射線光管結合起來,有效地監(jiān)測樣品制備的質量,而無需昂貴的二維探測器。而二維探測器的真正優(yōu)勢在于,將點聚焦的X射線光管和可變的樣品到探測器的距離相結合,可以進行定量的粉末衍射、應力和織構分析。然而,這需要具有一定尺寸的二維探測器,這在臺式X射線衍射儀上
  • 2024

    03-13

    應用分享 | 三維X射線顯微鏡(XRM)即Micro CT在藥物片劑逆向工程中的應用

    在現(xiàn)代藥物研發(fā)和質量控制領域,三維X射線顯微成像或顯微計算機斷層掃描(Micro-CT)技術已經(jīng)成為一個缺少不可的工具。特別是在藥物片劑的逆向工程研究中,該技術以其非破壞性、高分辨率的成像能力,為藥物的質量評估和新藥研發(fā)提供了強有力的技術支持。本文中我們將在布魯克桌面型三維X射線顯微鏡(XRM/MicroCT)SKyScan1272的協(xié)助下,探究顯微CT在藥物片劑逆向工程中的三個關鍵應用:孔隙分析、活性的藥物成分(API)分布以及包衣厚度表征。——藥物片劑及切片圖像正交三視圖孔隙分析藥物片劑的孔
  • 2024

    02-28

    布魯克三維X射線顯微鏡(Bruker 3D XRM)在考古紡織品研究中的應用

    對于考古紡織品結構和材料的研究通常很復雜,并且由于樣品容易受到沉積后的影響,如污垢和腐爛,這可能使研究人員的工作變得更加費力和麻煩。在考古學的相關研究中,侵入式的研究方法是不可取的,因為發(fā)掘出來的大多數(shù)物品都是稀缺的,保存這些物品至關重要,尤其是考古紡織品,很容易破損,而且其外部通常覆蓋著硬化的泥土或粘土,無法去除。這時,使用μCT或3DXRM這種能夠提供微米尺度的無損成像技術將很好地幫助我們通過橫截面或3D可視化來研究這些易碎物品并且不會損壞它們,以達到樣品重復利用研究的目的。此外,來自μCT
  • 2024

    02-28

    應用分享 | 電阻率測試對碳化硅半導體的意義

    隨著全球對能源需求的不斷增加,特別是在電動或混合動力汽車和可再生能源管理這些領域,人們越來越注重以較低的電力消耗為目標,因此能在高頻、高溫、高壓環(huán)境下工作的第三代半導體材料碳化硅(SiC)逐漸受到了廣泛的關注。目前碳化硅產(chǎn)業(yè)已成為全球范圍內一個新興的高技術行業(yè),涵蓋了材料、器件、模塊以及應用等多個方面的產(chǎn)業(yè)鏈。然而,在生產(chǎn)和制備過程中應怎樣確保SiC的穩(wěn)定性和工作效率呢?較基礎、高效的方式就是準確測量它們的電阻率或電導率。按照摻雜后SiC的電阻率來分類,碳化硅襯底主要有導通型襯底和半絕緣襯底兩種
  • 2024

    02-25

    XRD在藥物研究中的應用系列之-總覽篇

    X射線衍射技術在藥物分析中有著廣泛的應用。X射線衍射技術是一種用于研究物質結構的分析方法,它通過測量X射線在晶體中的衍射角度,來確定晶體的結構。這種技術在藥物分析中具有很多應用。自藥典和法規(guī)對涉及藥物晶型研究相關的問題時,X射線衍射技術在藥物分析中的應用開始增加,為藥物研發(fā)、生產(chǎn)和質量控制提供重要的技術支持。常見的有下面幾種。藥物API晶型分析藥物雜質分析(堿式碳酸鑭雜質定量)結晶度分析原位分析在藥物成分鑒定、藥物合成監(jiān)測、藥物制劑分析、藥物與生物分子相互作用研究、藥物溶解度研究、藥物釋放機制研
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