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2020
07-262020
07-202020
07-082020
07-032020
06-252020
06-232020
06-182020
06-11水滴角測量儀應用芯片半導體行業(晶圓wafer)的關鍵技術要點
半導體芯片行業特別是晶圓制程中對于清凈度的要求非常高,只有符合要求的晶圓才可視為合格品。作為測試等離子清洗效果評估的手段,水滴角測量儀是評估晶圓品質的有效的工具。2018年以來,中國的芯片行業得到了迅速發展,因而,對于水滴角的測試提出了更高要求。根據水滴角測試基本原理:固體樣品表面因本身存在的表面粗糙度、化學多樣性、異構性的等因素,固體表面的接觸角值或水滴角值均體現為左、右、前、后的不一致;因而,水滴角的測量儀器的算法必須采用符合界面化學的基本原理并能夠實現3D水滴角測量的阿莎算法(ADSA-R2020
06-052020
06-022020
04-212020
04-08Tampere University: 全材料的一體化3D測量工具
【應用案例】TampereUniversity:全材料的一體化3D測量工具*關鍵詞:形貌,粗糙度,尺寸,一體化,快速,大面積,真3D,光學非接觸*摘要:一種測量各種材料、形狀和尺寸的工具---ALICONA光學三維形貌測量儀在對材料的研究中,芬蘭坦佩雷理工大學探索了各種技術應用的創新方法。通過Alicona的光學三維計量技術,他們找到了一個多功能型的工具,用于分析各種各樣的材料,并對各種形狀和尺寸的部件進行幾何驗證。材料選擇技術是生產高質量構件的關鍵因素。技術創新和新的制造工藝直接關聯到材料的研2020
04-032019
10-282019
10-262019
09-262019
09-242019
08-232019
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