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2022
03-28Bruker Dektak XT臺(tái)階儀在半導(dǎo)體芯片中的應(yīng)用
臺(tái)階儀(探針式輪廓儀)通過記錄探針在物體表面的垂直位移,從而達(dá)到測量物體表面臺(tái)階高度、粗糙度等物理參數(shù)的目的。主要用于薄膜材料厚度(2D)測量和表面形貌測量(3D)。臺(tái)階儀可獲得定量的臺(tái)階高度、線粗糙度、薄膜曲率半徑,測量薄膜應(yīng)力等。BrukerDektakXT臺(tái)階儀由于其操作簡單、分辨率高及重復(fù)性良好等優(yōu)點(diǎn),被廣泛用于半導(dǎo)體、微電子、太陽能、LED、觸摸屏、醫(yī)療等領(lǐng)域。BrukerDektakXT臺(tái)階儀有以下特點(diǎn):高度方向采用的LVDT線性位移傳感器,該傳感器因其結(jié)構(gòu)為無接觸式,使其具有無摩擦2022
03-14開放式微區(qū)X射線熒光光譜儀在顏料中的應(yīng)用
X射線熒光分析技術(shù)由于其分析速度快,可測元素范圍廣,無損檢測等優(yōu)點(diǎn)被廣泛應(yīng)用于科技考古領(lǐng)域。而微區(qū)X射線熒光分析技術(shù)將光學(xué)圖像與元素分布成像很好的結(jié)合,為科研工作者提供了新的分析手段。Bruker開放式微區(qū)X射線熒光光譜儀M6Jetstream能夠?qū)Υ蟪叽缥奈镞M(jìn)行原位、無損掃描分析,尤其適用于油畫顏料、壁畫、古建筑保護(hù)等方向,在測試過程中不受樣品尺寸及不規(guī)則形狀的限制,用于鑒定文物的年代、真?zhèn)巍a(chǎn)地、制作工藝以及如何進(jìn)行文物保護(hù)等。顏料自古以來都是進(jìn)行裝飾、繪畫創(chuàng)作和生產(chǎn)加工的重要材料,也是彩繪2022
03-112021
09-142021
08-262021
08-19微區(qū)X射線熒光光譜儀M4 Tornado無損檢測混凝土中元素
混凝土在生活中有著廣泛的應(yīng)用,如房屋建材、道路橋梁、造船業(yè)、機(jī)械工業(yè)、地?zé)峁こ獭⑺姟?D打印等領(lǐng)域。從19世紀(jì)中期,混凝土的強(qiáng)度、抗酸堿度、均勻性、耐久性等性能一直受到人們的關(guān)注,而德國Bruker微區(qū)X射線熒光光譜儀M4Tornado不僅可以針對混凝土樣品的不均勻性、大尺寸特點(diǎn)進(jìn)行表征,其次,M4Tornado對混凝土中不同位置可以進(jìn)行面掃描元素分析、定性及半定量、定量分析,為使用者提供詳細(xì)直觀的的相關(guān)信息。M4Tornado在混凝土老化、雜質(zhì)摻雜、抗酸堿腐蝕性、凝膠相的相態(tài)分布、不同位2021
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