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深圳市中圖儀器股份有限公司

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  • 2023

    02-24

    想了解關(guān)于激光干涉儀更多的,瞧這里

    激光干涉儀是在單頻激光干涉儀的基礎(chǔ)上發(fā)展的一種外差式干涉儀。和單頻激光干涉儀一樣,激光干涉儀也是一種以波長(zhǎng)作為標(biāo)準(zhǔn)對(duì)被測(cè)長(zhǎng)度進(jìn)行度量的儀器。可以在恒溫,恒濕,防震的計(jì)量室內(nèi)檢定量塊,量桿,刻尺和坐標(biāo)測(cè)量機(jī)等。它既可以對(duì)幾十米的大量程進(jìn)行精密測(cè)量,也可以對(duì)手表零件等微小運(yùn)動(dòng)進(jìn)行精密測(cè)量,既可以對(duì)幾何量如長(zhǎng)度、角度.直線度、平行度、平面度、垂直度等進(jìn)行測(cè)量,也可以用于特殊場(chǎng)合,諸如半導(dǎo)體光刻技術(shù)的微定位和計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)器上記錄槽間距的測(cè)量等等。激光干涉儀是建立在塞曼效應(yīng)、牽引效應(yīng)和多普勒效應(yīng)的基礎(chǔ)之上的
  • 2023

    02-22

    白光干涉儀和共聚焦顯微鏡的區(qū)別

    對(duì)于現(xiàn)代愈發(fā)復(fù)雜的工藝檢測(cè),諸如半導(dǎo)體、電子封裝及光學(xué)加工等產(chǎn)業(yè)中,由于表面微觀輪廓結(jié)構(gòu)的準(zhǔn)確性決定著產(chǎn)品的功能和效能,所以不管是拋光表面還是粗糙表面的工件(諸如半導(dǎo)體硅片及器件、薄膜厚度、光學(xué)器件表面、其他材料分析及微表面研究),都需要測(cè)量斷差高度、粗糙度、薄膜厚度及平整度、體積、線寬等。同為微納米級(jí)表面光學(xué)分析儀器,白光干涉儀和激光共聚焦顯微鏡都具有非接觸式、高速度測(cè)量、高穩(wěn)定性的特點(diǎn),都有表征微觀形貌的輪廓尺寸測(cè)量功能,適用范圍廣,可測(cè)多種類型樣品的表面微細(xì)結(jié)構(gòu)。但白光干涉儀與共聚焦顯微鏡
  • 2023

    02-21

    白光干涉儀的測(cè)量原理

    一、通過(guò)不同光學(xué)元件形成參考光路和檢測(cè)光路。二、原理過(guò)程:(1)利用干涉原理測(cè)量光程之差從而測(cè)定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會(huì)非常靈敏地導(dǎo)致干涉條紋的移動(dòng),而某一束相干光的光程變化是由它所通過(guò)的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起,所以通過(guò)干涉條紋的移動(dòng)變化可測(cè)量幾何長(zhǎng)度或折射率的微小改變量,從而測(cè)得與此有關(guān)的其他物理量。(2)測(cè)量精度決定于測(cè)量光程差的精度,干涉條紋每移動(dòng)一個(gè)條紋間距,光程差就改變一個(gè)波長(zhǎng)(~10-7米),所以干涉儀是以光波波長(zhǎng)為單位測(cè)量光程差的,其測(cè)量精度之高
  • 2023

    02-15

    共聚焦顯微鏡各部分名稱和功能

    以共聚焦技術(shù)為原理,用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量的VT6000共聚焦顯微鏡,可對(duì)材料樣品的表面形貌直接進(jìn)行成像,橫向分辨率可達(dá)1nm,Z軸分辨率可達(dá)0.5nm。不僅可對(duì)樣品表面形貌進(jìn)行測(cè)量,提供表征微觀形貌的輪廓尺寸測(cè)量功能,還提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結(jié)構(gòu)分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能。其中粗糙度分析包括依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)的ISO4287的線粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全參數(shù)分析功能;幾何輪廓分析包括臺(tái)階高、距離、角度、曲率等特征測(cè)量和直線度、圓
  • 2023

    02-15

    基于共聚焦顯微技術(shù)的顯微鏡和熒光顯微鏡的區(qū)別

    熒光顯微鏡主要應(yīng)用在生物領(lǐng)域及醫(yī)學(xué)研究中,能得到細(xì)胞或組織內(nèi)部微細(xì)結(jié)構(gòu)的熒光圖像,在亞細(xì)胞水平上觀察諸如Ca2+、PH值,膜電位等生理信號(hào)及細(xì)胞形態(tài)的變化,是形態(tài)學(xué),分子生物學(xué),神經(jīng)科學(xué),藥理學(xué),遺傳學(xué)等領(lǐng)域中新一代強(qiáng)有力的研究工具。以共聚焦技術(shù)為原理的共聚焦顯微鏡,是用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。材料科學(xué)的目標(biāo)是研究材料表面結(jié)構(gòu)對(duì)于其表面特性的影響。因此,高分辨率分析表面形貌對(duì)確定表面粗糙度、反光特性、摩擦學(xué)性能及表面質(zhì)量等相關(guān)參數(shù)具有重要意義。共焦技術(shù)能夠測(cè)量各種表
  • 2023

    02-15

    影像測(cè)量設(shè)備都有什么?有哪些影像儀器?

    影像測(cè)量?jī)x器是廣泛應(yīng)用于機(jī)械、電子、儀表的儀器。主要由機(jī)械主體、標(biāo)尺系統(tǒng)、影像探測(cè)系統(tǒng)、驅(qū)動(dòng)控制系統(tǒng)和測(cè)量軟件等與高精密工作臺(tái)結(jié)構(gòu)組成的光電測(cè)量?jī)x器。一般分為三大類:手動(dòng)影像儀、自動(dòng)影像儀和閃測(cè)影像儀。測(cè)量元素主要有:長(zhǎng)度、寬度、高度、孔距、間距、厚度、圓弧、直徑、半徑、槽、角度、R角等。1、手動(dòng)影像儀手動(dòng)影像儀3軸采用手動(dòng)驅(qū)動(dòng)的方式,測(cè)量軟件為手動(dòng)取點(diǎn)。是利用變焦物鏡對(duì)被測(cè)物體進(jìn)行放大,經(jīng)過(guò)CCD工業(yè)攝像裝置將圖像輸入電腦,放大后的被測(cè)物體影像傳輸?shù)綔y(cè)量軟件,用以進(jìn)行非接觸檢測(cè)各種復(fù)雜工件的幾
  • 2023

    02-14

    沒(méi)想到一鍵影像儀擁有如此之多的特點(diǎn)

    一鍵影像儀是一種新型的影像測(cè)量技術(shù)。它和傳統(tǒng)的二次元影像測(cè)量?jī)x不同的是它不再需要光柵尺位移傳感器作為精度標(biāo),也不經(jīng)過(guò)大焦距的鏡頭經(jīng)過(guò)放大產(chǎn)品影像來(lái)保障測(cè)量精度。一鍵影像儀通過(guò)一個(gè)大視角大景深的遠(yuǎn)心鏡頭,將產(chǎn)品輪廓影像縮小數(shù)倍或數(shù)十倍后傳遞至幾百萬(wàn)像素高分辨率CCD相機(jī)上做數(shù)字化處理,再由有著強(qiáng)大計(jì)算能力的后臺(tái)繪圖測(cè)量軟件完成按照預(yù)先編程指令快速抓取產(chǎn)品輪廓圖,最后和以高像素相機(jī)微小像素點(diǎn)形成的標(biāo)尺進(jìn)行對(duì)比后計(jì)算出產(chǎn)品尺寸,同時(shí)完成對(duì)尺寸公差的評(píng)價(jià)。一鍵影像儀采用雙遠(yuǎn)心高分辨率光學(xué)鏡頭,結(jié)合高精度
  • 2023

    01-16

    激光干涉儀原理特點(diǎn)

    一、激光干涉儀,以激光波長(zhǎng)為已知長(zhǎng)度,利用邁克耳遜干涉系統(tǒng)測(cè)量位移的通用長(zhǎng)度測(cè)量。二、激光具有高強(qiáng)度、高度方向性、空間同調(diào)性、窄帶寬和高度單色性等優(yōu)點(diǎn)。目前常用來(lái)測(cè)量長(zhǎng)度的干涉儀,主要是以邁克爾遜干涉儀為主,并以穩(wěn)頻氦氖激光為光源,構(gòu)成一個(gè)具有干涉作用的測(cè)量系統(tǒng)。激光干涉儀可配合各種折射鏡、反射鏡等來(lái)作線性位置、速度、角度、真平度、真直度、平行度和垂直度等測(cè)量工作,并可作為精密工具機(jī)或測(cè)量?jī)x器的校正工作。三、位置精度的檢測(cè)及其自動(dòng)補(bǔ)償可檢測(cè)數(shù)控機(jī)床定位精度、重復(fù)定位精度、微量位移精度等。利用雷尼
  • 2022

    12-28

    激光干涉儀快速檢測(cè)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)垂直度

    三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)量精度高、效率高,廣泛應(yīng)用在精密加工檢測(cè)領(lǐng)域。它與數(shù)控機(jī)床是保證工件測(cè)量與加工精度的關(guān)鍵設(shè)備。其中作為高精度的測(cè)量基準(zhǔn),幾何誤差的快速、高精度檢測(cè)技術(shù)都是三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)性能提升的關(guān)鍵。三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)運(yùn)行速度的加快,動(dòng)態(tài)誤差往往會(huì)比靜態(tài)/準(zhǔn)靜態(tài)誤差對(duì)測(cè)量精度影響更大。特別在高速測(cè)量過(guò)程中,產(chǎn)生的自激振動(dòng)和受迫振動(dòng),都會(huì)產(chǎn)生動(dòng)態(tài)誤差。激光干涉儀是常用的機(jī)床、三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)幾何誤差檢測(cè)的手段。其中垂直度測(cè)量是通過(guò)比較正交軸的直線度值從而確定正交軸的非直角度。三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的垂直度誤差可能是導(dǎo)軌磨
  • 2022

    12-28

    白光干涉儀3D形貌測(cè)量之美

    白光干涉儀能測(cè)什么?有著“納米眼”之稱的白光干涉儀,是一款在縱向分辨率上可實(shí)現(xiàn)0.1nm的分辨率和測(cè)量可靠性的光學(xué)測(cè)量?jī)x器。下面就讓我們一起來(lái)領(lǐng)略下國(guó)產(chǎn)白光干涉儀鏡頭下的3D顯微之美。SuperViewW1白光干涉儀白光干涉儀采用的光學(xué)輪廓測(cè)量法可以非接觸式測(cè)量非平坦樣品,輕松測(cè)量出彎曲和其他非平面表面,還可以測(cè)出曲面的表面光潔度、紋理和粗糙度等,同時(shí)不會(huì)像探針是輪廓儀那樣損壞薄膜。白光干涉儀3D形貌圖片:圖1.超光滑_納米級(jí)表面圖2.分成了32階的納米級(jí)微納光學(xué)元件圖3.半導(dǎo)體芯片表面外觀圖4
  • 2022

    12-19

    重在品質(zhì),工于裝備!激光跟蹤儀應(yīng)用系列-工程機(jī)械部件檢測(cè)

    工程機(jī)械作為工程建設(shè)中的重要工具,施工過(guò)程中長(zhǎng)期承受各種外力,因此對(duì)各結(jié)構(gòu)件質(zhì)量要求很高,檢測(cè)十分嚴(yán)格,通常要求的公差在0.1mm~0.2mm以內(nèi)。工程機(jī)械部件外形尺寸及重量通常較大,常規(guī)儀器無(wú)法有效滿足檢測(cè)需求,GTS激光跟蹤儀作為大尺寸空間精密測(cè)量?jī)x器,空間測(cè)量精度以微米計(jì),且測(cè)量范圍可達(dá)160m,能為工程機(jī)械制造提供精準(zhǔn)的測(cè)量保障。激光跟蹤儀采用球坐標(biāo)系測(cè)量系統(tǒng),測(cè)量時(shí),操作者手持測(cè)量靶球,激光跟蹤儀射出一道激光主動(dòng)跟蹤測(cè)量靶球,在操作者將靶球接觸待測(cè)工件表面時(shí),激光跟蹤儀精確采集該點(diǎn)的三
  • 2022

    12-19

    白光3D輪廓測(cè)量?jī)x適配芯片制造生產(chǎn)線,助力半導(dǎo)體行業(yè)發(fā)展

    近年來(lái),面對(duì)持續(xù)高漲的芯片需求,半導(dǎo)體行業(yè)生產(chǎn)迎來(lái)了高難度挑戰(zhàn)——對(duì)芯片工藝要求更精細(xì),從5nm到3nm,甚至是2nm。“先進(jìn)封裝”的提出,是對(duì)技術(shù)的新要求,也是對(duì)封裝工藝中材料和設(shè)備的全新考驗(yàn)。芯片身上布控著幾千萬(wàn)根晶體管,而晶體管越小,可放置的晶體管越多,性能也將越高。芯片的進(jìn)化就是晶體管變小的過(guò)程。晶體管密度更大、占用空間更少、性能更高、功率更低,但挑戰(zhàn)也越來(lái)越難以克服。小尺寸下,芯片物理瓶頸越來(lái)越難以克服。尤其在近幾年,先進(jìn)節(jié)點(diǎn)走向10nm、7nm、5nm......白光3D輪廓測(cè)量?jī)x適
  • 2022

    12-12

    數(shù)控機(jī)床檢測(cè)技術(shù)之激光干涉儀角度測(cè)量

    目前,在幾何量測(cè)量中最重要的激光技術(shù)是用廣電轉(zhuǎn)換條紋計(jì)數(shù)等方法來(lái)測(cè)量長(zhǎng)度,這種方法具有精度高、速度快、量程大、始于非接觸測(cè)量及自動(dòng)測(cè)量等優(yōu)點(diǎn)。基于激光干涉儀技術(shù)的精密角度測(cè)量系統(tǒng),通過(guò)角度轉(zhuǎn)換裝置將角度量轉(zhuǎn)換為可以反映干涉光路中光程差變化的線性位移量,由此引起干涉條紋的變化,再通過(guò)相應(yīng)電路對(duì)干涉條紋進(jìn)行一系列處理,從而實(shí)現(xiàn)了對(duì)大轉(zhuǎn)角的精密測(cè)量。具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、誤差恒定、測(cè)量精度高、測(cè)角范圍大、易于數(shù)字化等特點(diǎn)。激光干涉儀利用激光作為長(zhǎng)度基準(zhǔn),可以對(duì)數(shù)控設(shè)備(加工中心、三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)等)的位置精度(定
  • 2022

    12-12

    白光干涉儀是啥呢

    一、干涉儀是一種對(duì)光在兩個(gè)不同表面反射后形成的干涉條紋進(jìn)行分析的儀器。其基本原理就是通過(guò)不同光學(xué)元件形成參考光路和檢測(cè)光路。二、工作原理:(1)干涉儀是利用干涉原理測(cè)量光程之差從而測(cè)定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會(huì)非常靈敏地導(dǎo)致干涉條紋的移動(dòng),而某一束相干光的光程變化是由它所通過(guò)的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起,所以通過(guò)干涉條紋的移動(dòng)變化可測(cè)量幾何長(zhǎng)度或折射率的微小改變量,從而測(cè)得與此有關(guān)的其他物理量。(2)測(cè)量精度決定于測(cè)量光程差的精度,干涉條紋每移動(dòng)一個(gè)條紋間距,光程差
  • 2022

    11-25

    三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)導(dǎo)軌和工作臺(tái)介紹

    三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)可以代替多種表面測(cè)量工具及昂貴的組合量規(guī),能夠?qū)Ω鞣N零件和部件的尺寸、形狀及相互位置關(guān)系進(jìn)行檢測(cè),也可以對(duì)軟材質(zhì)或復(fù)雜零件進(jìn)行光學(xué)掃描測(cè)量。它是在三維空間上通過(guò)采集點(diǎn)的三維坐標(biāo)來(lái)評(píng)定物體幾何形狀,是集光、電、氣、機(jī)械與計(jì)算機(jī)技術(shù)為一體的自動(dòng)化坐標(biāo)測(cè)量?jī)x器,也是制造業(yè)中的重要檢測(cè)設(shè)備。一、工作臺(tái)花崗巖具有變形小、穩(wěn)定性好、耐磨損、不生銹,且價(jià)格低廉、易于加工的特點(diǎn)。Mars系列三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)采用花崗巖來(lái)制造固定式的工作臺(tái),使機(jī)器具有承載能力強(qiáng)、裝卸空間寬闊、便捷的優(yōu)點(diǎn)。二、導(dǎo)軌三坐標(biāo)測(cè)量
  • 2022

    11-25

    三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭系統(tǒng)是什么

    測(cè)頭系統(tǒng)是三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的數(shù)據(jù)采集傳感器系統(tǒng),是三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的關(guān)鍵部件,測(cè)頭精度的高低決定了坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)量重復(fù)性。三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的功能、工作效率、精度與測(cè)頭密切相關(guān)。在對(duì)工件進(jìn)行測(cè)量時(shí),三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)能夠根據(jù)測(cè)頭系統(tǒng)探測(cè)工件,返回工件表面的點(diǎn)數(shù)據(jù),通過(guò)三坐標(biāo)的軟件系統(tǒng)計(jì)算各類幾何形狀、尺寸等。測(cè)頭的分類按結(jié)構(gòu)原理,測(cè)頭可分為機(jī)械式、光學(xué)式和電氣式。按測(cè)量方法,測(cè)頭可分為接觸式和非接觸式。測(cè)頭系統(tǒng)的組成測(cè)頭系統(tǒng)包括分度測(cè)座、測(cè)頭及其附件,其附件包括測(cè)桿、加長(zhǎng)桿和探針。1、測(cè)座Pantec測(cè)座是探測(cè)系統(tǒng)
  • 2022

    11-23

    發(fā)動(dòng)機(jī)葉片曲面檢測(cè)工具|白光干涉儀五軸全自動(dòng)測(cè)量

    葉片作為發(fā)動(dòng)機(jī)的核心部件,制造工藝復(fù)雜,科技含量高,在研發(fā)過(guò)程中遇到的難題很多。可以說(shuō)發(fā)動(dòng)機(jī)的性能很大程度上取決于葉片型面的設(shè)計(jì)和制造水平。其中航空發(fā)動(dòng)機(jī)葉片是典型的自由曲面零件,它的曲線形狀、制造精度和質(zhì)量直接決定了發(fā)動(dòng)機(jī)的推進(jìn)效率大小和安全。一個(gè)發(fā)動(dòng)機(jī)上有很多葉片,每一個(gè)圓盤上大概有30多個(gè)葉片,如果葉片的形狀和尺寸不能夠保證,那么在發(fā)動(dòng)機(jī)高速運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)是非常危險(xiǎn)的。所以對(duì)于葉片的型面和幾何尺寸檢測(cè)也是非常重要的,但是就葉片的形狀來(lái)說(shuō)常規(guī)測(cè)量方法很難進(jìn)行測(cè)量。白光干涉儀作為一款超高精度的光學(xué)3D
  • 2022

    11-21

    非球面鏡片測(cè)量|SJ5720高精度光學(xué)粗糙度輪廓儀

    目前國(guó)內(nèi)尚無(wú)專業(yè)測(cè)量設(shè)備能夠檢測(cè)高精度非球面鏡片參數(shù),比如微觀輪廓參數(shù)、水平軸線夾角、光軸位置參數(shù)及頂點(diǎn)半徑誤差、斜率參數(shù)等,基本依賴進(jìn)口,只有部分國(guó)產(chǎn)機(jī)型能夠滿足普通精度的微觀輪廓Pt參數(shù)測(cè)量,而從國(guó)外進(jìn)口這類超高精度面型輪廓測(cè)量?jī)x器價(jià)格高;光學(xué)儀器以超精密光學(xué)鏡片為基本原材料,目前檢測(cè)儀器的水平嚴(yán)重影響了我國(guó)光學(xué)儀器產(chǎn)業(yè)的提高和進(jìn)步。SJ5720高精度光學(xué)輪廓粗糙度測(cè)量?jī)x精度達(dá)到(儀器直線度≤0.25μm/200mm,大范圍形貌微觀輪廓Pt≤0.3μm,粗糙度測(cè)量精度達(dá)到納米級(jí)、測(cè)力最小0.
  • 2022

    11-14

    移動(dòng)橋架三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x介紹

    一、移動(dòng)橋式三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x是一種用于動(dòng)力與電氣工程領(lǐng)域的科學(xué)儀器,于2002年9月1日啟用。二、原理:(1)移動(dòng)橋架三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x是三坐標(biāo)的一種,是一種精度高、測(cè)量速度快的、性能穩(wěn)定的測(cè)量系統(tǒng)。能夠完成各種復(fù)雜的檢測(cè)和測(cè)量任務(wù)要求,(2)可選配多測(cè)頭系統(tǒng):光學(xué)CCD影像測(cè)頭、激光測(cè)頭,可滿足復(fù)雜的箱體的精密尺寸測(cè)量、復(fù)雜形面的掃描檢測(cè)及逆向工程應(yīng)用。三、應(yīng)用特點(diǎn):1.X向橫梁:采用精密斜梁技術(shù)。2、直接加工在工作臺(tái)上的整體下燕尾槽定位結(jié)構(gòu)。3.導(dǎo)軌方式:采用自潔式預(yù)載荷高精度空氣軸承組成的四面環(huán)抱式
  • 2022

    11-08

    數(shù)控加工中心精度的檢測(cè)工具

    機(jī)床的加工精度是衡量機(jī)床性能的一項(xiàng)重要指標(biāo)。在機(jī)床加工過(guò)程中,由于各種因素的影響,如無(wú)切削負(fù)荷下,機(jī)床本身的制造誤差、安裝誤差和磨損等,使刀具和工件間的正確位置發(fā)生偏移,導(dǎo)致加工零件可能達(dá)不到理想的要求。只有定期檢測(cè)機(jī)床誤差、校正反向間隙等,才可切實(shí)改善生產(chǎn)使用中的機(jī)床精度,改善零件的加工質(zhì)量,提高機(jī)床利用率。中圖儀器機(jī)床測(cè)量四件套旨在保證數(shù)控機(jī)床精度,改善數(shù)控機(jī)床性能,提高數(shù)控機(jī)床效率。為機(jī)械制造工業(yè)提供序前(激光干涉儀、精密自動(dòng)轉(zhuǎn)臺(tái)和球桿儀)和序中(機(jī)床測(cè)頭)檢測(cè)的質(zhì)量保證手段。SJ6000
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