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大型自動光學檢測系統AOI是為14''晶圓光學檢測設計的自動光學檢測機器,非常適合微電子與半導體檢測,自動光學檢測晶圓、芯片、引線鍵合等。
大型自動光學檢測系統AOI的900系列是一個模塊化AOI檢查平臺,提供一系列良好的光學和操控性
解決方案包括3D、高分辨率成像和quad彩色照明。攝像頭和光學系統可擴展到分辨率低于1微米。此外,一系列可定制物料搬運配置包括…在內刀庫處理、帶鋼處理、托盤處理和晶圓處理。
大型自動光學檢測系統AOI非常適合晶片、芯片和引線、鍵合檢查等。提供自動檢查和校準功能,適合半導體和微電子領域的測量解決方案。
大型自動光學檢測系統AOI平臺提供最高的分辨率,2D和3D功能和光學,微電子、包裝和三坐標測量功能。
大型自動光學檢測系統AOI使用高分辨率3D系統、12MP分辨率攝像頭、多層照明和多通道技術。
大型自動光學檢測系統AOI特點
滿足100級超凈間標準 (請聯系我們確認)
較高測量能力,較大吞吐量
高分辨率3D檢測,微光學物鏡,
100-300mm晶圓
引線鍵合檢測
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大型自動光學檢測系統AOI規格參數

型號MVP900+LP7+LP15+Micro
檢測能力晶圓,切片晶圓,引線鍵合,引線框架,微電子,3D粘貼,焊劑,保形,環氧樹脂,膠水,RF, BGA, CMM,模具、表面檢查、陶瓷、厚膜、汽車等
編程速度增強的工具,允許您使用或不借助CAD生成程序
X和Y運動系統精密XY位移臺具有0.5微米的定位精度
光學分辨率0.3~5um可選擇(請您訂購時選擇確定分辨率)
光學相機分辨率2500萬像素或1200萬像素可選
光學照明白光或Quad彩色照明
3D測量原理3D光源照明激光輪廓儀激光輪廓儀微觀測量
3D速度
0.5cm/s2.4cm/s由應用決定
3D傳感器
XY分辨率

2.5um5um250-350nm
3D傳感器
Z重復精度

0.3um0.4um0.5um
最大零件高度35mm35mm35mm35mm
計算機多線程高級計算機,配置不低于1TB SSD硬盤,32-256G內存,Linux系統
檢測的外部尺寸355mm x 355mm  (14'')
片厚0.01-12.5mm
外形尺寸W844mm x D1066mm x H1473mm
傳送帶長度850mm
供電要求208-240VAC,10A, 50/60Hz
重量680kg
符合標準S2/S8, CE





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