非接觸式白光干涉輪廓儀

CCIMP

結構緊湊的高新能白光干涉儀

無論對分析速度的要求有多高，我們創新的CCI光學裝置非接觸式光學輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結果。 高分辨率相機與1/10埃垂直分辨率相結合，無論是測量非常粗糙的表面，還是測量非常光滑的表面，都能獲得令人不可思議的詳細分析。

        CCI光學裝置與光學研究人員和科學家的專業知識保持與時俱進，能滿足光學領域的嚴苛測量要求。 CCI光學裝置將強大的尺寸及粗糙度分析軟件與*與倫比的工程設計融于一體，是一種非常適合用于粗糙度測量的檢驗工具。 CCI特別的薄膜厚度測量功能，進一步完善了為光學工業而設計的出色計量包裝 。

?    2048 x 2048像素陣列，視場廣，高分辨率
?    全量程0.1埃的分辨率
?    輕松測量反射率為0.3% - 100%的各種表面
?    RMS重復精度<0.2埃，階躍高度重復精度<0.1%
?    多語言版本的64位控制和分析軟件

良好的光學干涉測量技術

 •     非壓電陶瓷閉環Z軸掃描控制，2.2毫米掃描范圍
 •     改進后的拼接功能，使Z軸量程可達100毫米
 •     1024  x  1024像素陣列可獲得高分辨率的大視場
 •     增強了角度靈敏度，能夠得到更好的測量數據

從實質上消除測量的不確定性

 •     RMS重復性小于0.2埃，臺階高度重復性小于0.1%
 •     整個測量量程有著0.1埃分辨率
 •     FEA優化機械設計，具備出色的R&R能力
 •     采用ISO標準的校準，確保結果的可信度

追求長期成本效益的堅固耐用設計

 •     非壓電Z軸掃描控制可省去昂貴的維修費用
 •     自動表面檢測可防止撞壞鏡頭
 •     內置自我診斷工具可快速、輕松地排除故障
 •     操作的簡便性可減少使用者出錯可能

64位控制和分析軟件

 •     包括中文、日文在內的多語種支持
 •     兼容大多數計算機平臺，有利于開展合作性研究項目
 •     提供多種新工具，包括3D表面隨時間演變過程中進行4D分析
 •     根據多批次測量數據自動生成報告

非接觸式白光干涉輪廓儀無限的應用可能性

許多用戶依靠CCI MP解決其他儀器*無法處理的測量問題。憑借出色的量程、非常高的分辨率以及操作簡便的優勢,成為在眾多應用場合中研發和質量保證的理想工具。