三維光學(xué)顯微鏡

布魯克作為三維表面測(cè)量與觀察業(yè)界的ling dao者，提供從微觀如MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)）到宏觀如發(fā)動(dòng)機(jī)腔體等不同大小樣品的快說(shuō)非接觸式分析。如今的三維顯微鏡已歷十代，在原有Wyko®專(zhuān)有技術(shù)基礎(chǔ)上，不斷積累創(chuàng)新，來(lái)保證面對(duì)各種應(yīng)用環(huán)境時(shí)三維測(cè)量所需的高靈敏度和穩(wěn)定性；而這一挑戰(zhàn)往往是其他測(cè)量技術(shù)或測(cè)量系統(tǒng)難以克服的。

布魯克三維光學(xué)顯微系統(tǒng)在業(yè)界一直以佳服務(wù)和支持著稱(chēng)，在性能穩(wěn)定性上一貫口碑良好。從研究型實(shí)驗(yàn)室到生產(chǎn)型車(chē)間和半導(dǎo)體無(wú)塵間，數(shù)以幾千計(jì)的系統(tǒng)被廣泛使用。作為專(zhuān)門(mén)為先進(jìn)質(zhì)量控制和研發(fā)設(shè)計(jì)的測(cè)量?jī)x器，可用于精密加工制造類(lèi)應(yīng)用的監(jiān)控，在汽車(chē)、航空航天、高亮度LED、太陽(yáng)能、半導(dǎo)體和醫(yī)療器械領(lǐng)域，布魯克總有一款適合您應(yīng)用和與預(yù)算的三維光學(xué)顯微測(cè)量系統(tǒng)。

ContourX-100 3D光學(xué)輪廓儀

粗糙度測(cè)量的精簡(jiǎn)而經(jīng)濟(jì)的臺(tái)式

ContourX-100光學(xué)輪廓儀以佳的價(jià)格為準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式表面計(jì)量樹(shù)立了新的*。小尺寸系統(tǒng)采用流線型封裝，可提供的2D / 3D高分辨率測(cè)量功能，并結(jié)合了數(shù)十年專(zhuān)有的布魯克白光干涉測(cè)量（WLI）創(chuàng)新技術(shù)。具有測(cè)量功能的臺(tái)式系統(tǒng)具有業(yè)界先進(jìn)的用戶友好界面，可直觀訪問(wèn)廣泛的預(yù)編程過(guò)濾器庫(kù)，并用于精密加工的表面，厚膜和摩擦學(xué)應(yīng)用分析。下一代增強(qiáng)功能包括新的5 MP攝像頭，更新的載物臺(tái)和新的測(cè)量模式，以實(shí)現(xiàn)更大的靈活性。您不會(huì)發(fā)現(xiàn)比ContourX-100更有價(jià)值的臺(tái)式設(shè)備。

ContourX-100 3D光學(xué)輪廓儀

輪廓GT-K

的計(jì)量

ContourX-100輪廓儀是非接觸表面計(jì)量，表征和成像領(lǐng)域超過(guò)四十年的專(zhuān)有光學(xué)創(chuàng)新和行業(yè)ling dao者的結(jié)晶。該系統(tǒng)利用3D WLI和2D成像技術(shù)在一次采集中進(jìn)行多種分析。 ContourX-100在從0.05％到100％的反射率的所有表面情況下都非常堅(jiān)固。

輪廓X-100

WLI為所有目標(biāo)提供恒定且終的垂直分辨率。

輪廓X-100

ContourX-100手動(dòng)平臺(tái)。

的價(jià)值和分析

ContourX-100臺(tái)式機(jī)具有成千上萬(wàn)的定制分析功能以及布魯克簡(jiǎn)單而強(qiáng)大的VisionXpress™和Vision64®用戶界面，為實(shí)驗(yàn)室和工廠車(chē)間的生產(chǎn)率進(jìn)行了優(yōu)化。硬件和軟件相結(jié)合，可提供對(duì)ding 級(jí)高通量光學(xué)性能的簡(jiǎn)化訪問(wèn)，*超越了同類(lèi)計(jì)量技術(shù)。