晶圓翹曲度厚度測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
晶圓翹曲度厚度測(cè)試儀是專業(yè)為晶圓翹曲度測(cè)量和晶圓厚度測(cè)量設(shè)計(jì)的晶圓厚度翹曲度測(cè)量?jī)x器。
晶圓翹曲度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
這款多功能晶圓翹曲度測(cè)量?jī)x是為晶圓生產(chǎn)線上自動(dòng)晶圓翹曲度測(cè)量設(shè)計(jì)的大型自動(dòng)晶圓測(cè)量?jī)x器,具有晶圓厚度測(cè)量,晶圓翹曲度測(cè)量,晶圓BOW/WARP測(cè)量,晶圓wave...
硅錠壽命測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
硅錠壽命測(cè)量?jī)x是精確的非接觸式測(cè)量本體壽命的儀器,適合任意生長(zhǎng)硅錠表面任意曲率半徑硅錠測(cè)量壽命。也適合單晶硅硅錠和多晶硅硅錠壽命測(cè)量
單晶多晶硅片壽命測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
單晶多晶硅片壽命測(cè)試儀是專用為晶圓品質(zhì)檢驗(yàn),測(cè)量少子壽命,測(cè)量光電導(dǎo)率和電阻率等研發(fā)的晶圓壽命測(cè)試儀器
晶圓少子壽命測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
這款晶圓少子壽命測(cè)量?jī)x是專業(yè)為晶圓少數(shù)載流子復(fù)合壽命測(cè)量設(shè)計(jì)的少子壽命測(cè)試儀器。
單點(diǎn)少子壽命測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
單點(diǎn)少子壽命測(cè)量?jī)x系統(tǒng)是經(jīng)濟(jì)型晶圓壽命測(cè)量?jī)x器,對(duì)不同制備階段的硅材料電學(xué)參數(shù)進(jìn)行表征。
微波探測(cè)光致電流瞬態(tài)譜儀 參考價(jià)：面議
微波探測(cè)光致電流瞬態(tài)譜儀采用微波技術(shù)探測(cè)材料的光生電流瞬態(tài)光譜值,非常適合溫度依賴的少子壽命測(cè)量和半導(dǎo)體界面陷阱。
晶圓晶錠壽命測(cè)定儀 參考價(jià)：面議
晶圓晶錠壽命測(cè)定儀是為晶圓晶錠測(cè)量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和樣品平整度及p/n檢查任務(wù)設(shè)計(jì)的晶圓晶錠少子壽命測(cè)試儀器。采用非接觸式檢測(cè)和無損成像（μPCD /...
溫度型少子壽命測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
這款溫度型少子壽命測(cè)試儀是為25℃~200℃范圍內(nèi)晶圓少數(shù)載流子復(fù)合壽命測(cè)量設(shè)計(jì)的溫度決定型少子壽命測(cè)定儀器。
進(jìn)口光學(xué)薄膜測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
薄膜測(cè)厚儀TohoSpec 3100是高精度薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng),采用小光斑光譜反射計(jì)獲得薄膜厚度信息,可靠的固態(tài)線性二極管陣列可快速、精確地測(cè)量單層薄膜，如氧化物...
光學(xué)鍍膜檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
光學(xué)鍍膜檢測(cè)儀PHOTON RT UV-VIS-MWIR是為光學(xué)鍍膜分析檢測(cè)設(shè)計(jì)的鍍膜掃描分光光度計(jì),滿足光學(xué)樣品的無人值守薄膜測(cè)量。測(cè)量基片上同一區(qū)域的透射率...
聚合物薄膜測(cè)厚儀,進(jìn)口膜厚儀 參考價(jià)：面議
聚合物薄膜測(cè)厚儀用于測(cè)量polymer films(聚合物薄膜、有機(jī)薄膜、高分子薄膜）和 photoresist films （光致抗蝕劑薄膜, 光刻膠膜,光刻...
鏡片透光率測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
鏡片透光率測(cè)試儀是一款眼鏡鏡片透光率測(cè)量?jī)x器,廣泛用于薄膜透光率測(cè)試,比如LED擴(kuò)散板透光率測(cè)試,鏡頭透光率測(cè)試,玻璃透過率測(cè)試,隔熱紙材料透過率測(cè)試。
進(jìn)口光學(xué)膜厚儀 參考價(jià)：面議
光學(xué)膜厚儀是一款臺(tái)式光學(xué)薄膜測(cè)厚儀,可測(cè)量薄膜厚度,測(cè)量薄膜吸收率,測(cè)量薄膜透過率,測(cè)量薄膜反射率,測(cè)量薄膜熒光,也可測(cè)量膜層厚度,測(cè)量薄膜光學(xué)常量折射率n和k...
顯微分光光度計(jì)薄膜測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
顯微分光光度計(jì)是多功能顯微薄膜測(cè)厚測(cè)量?jī)x,結(jié)合顯微鏡測(cè)量薄膜吸收率,透過率,反射率以及薄膜熒光，通過測(cè)量薄膜反射率快速測(cè)量薄膜厚度,測(cè)量薄膜光學(xué)常量(n &k)...
光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
高精度光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)量?jī)x是六軸電動(dòng)MTF測(cè)試儀器,軟件控制MTF測(cè)試分析,滿足有限/有限對(duì)象/圖像共軛光學(xué)測(cè)量應(yīng)用。
顯微光學(xué)傳遞函數(shù)分析儀 參考價(jià)：面議
顯微光學(xué)傳遞函數(shù)分析儀MTF Micro是為極短焦距的微光學(xué)元件設(shè)計(jì)的光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)試儀器,它在5個(gè)像場(chǎng)點(diǎn)和焦點(diǎn)測(cè)量MTF切向和矢狀。
光學(xué)鏡頭測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
光學(xué)鏡頭測(cè)量?jī)x是為光學(xué)鏡頭和光學(xué)模組分析測(cè)試設(shè)計(jì)的光學(xué)鏡頭分析測(cè)試儀器,滿足鏡頭經(jīng)典光學(xué)參數(shù)的測(cè)量系統(tǒng),如EFL（焦距）（正/負(fù)）、BFL、FFL、半徑（凹/凸...
紅外自準(zhǔn)直儀 參考價(jià)：面議
紅外自準(zhǔn)直儀是專門為1550nm波長(zhǎng)設(shè)計(jì)的電子紅外自動(dòng)準(zhǔn)直儀器,具有電子圖像評(píng)估功能和1弧秒的精度。
法拉第屏蔽箱 參考價(jià)：面議
法拉第屏蔽箱采用法拉第籠,Faraday Cage原理,是降低電磁干擾的有效法拉第箱和電磁屏蔽箱，非常適合電磁敏感或電磁干擾嚴(yán)重的儀器實(shí)驗(yàn)屏蔽電磁干擾使用,比如...
進(jìn)口法拉第罩殼 參考價(jià)：面議
法拉第罩殼采用法拉第籠,Faraday Cage原理,是降低電磁干擾的有效設(shè)備，非常適合電磁敏感或電磁干擾嚴(yán)重的儀器實(shí)驗(yàn)屏蔽電磁干擾使用。
磁場(chǎng)屏蔽消磁儀 參考價(jià)：面議
這款磁場(chǎng)屏蔽消磁儀MK-1用于MRI核磁共振和生物磁應(yīng)用的單軸磁場(chǎng)消除和電磁噪音屏蔽消除,非常適合當(dāng)磁場(chǎng)傳感器不能放置在屏蔽空間內(nèi)的應(yīng)用。
磁場(chǎng)消除系統(tǒng),磁場(chǎng)補(bǔ)償系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
磁場(chǎng)消除系統(tǒng)為掃描電鏡,聚焦離子束FIB消磁或電磁屏蔽設(shè)計(jì)的消磁儀器和磁場(chǎng)補(bǔ)償系統(tǒng),有效屏蔽消除磁場(chǎng)噪聲問題,為電子顯微鏡,電子和離子束實(shí)驗(yàn),磁共振成像MRI,...
主動(dòng)磁場(chǎng)屏蔽消磁系統(tǒng)ECS 參考價(jià)：面議
主動(dòng)磁場(chǎng)屏蔽消磁系統(tǒng) ECS是專業(yè)為電鏡等電子束儀器屏蔽磁場(chǎng)干擾而設(shè)計(jì)的主動(dòng)磁場(chǎng)屏蔽和主動(dòng)消磁裝置系統(tǒng).用于為科學(xué)儀器裝置免受磁場(chǎng)干擾影響的環(huán)境.(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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