薄膜厚度均勻性測量儀 參考價：面議
這款薄膜厚度均勻性測量儀采用光譜反射計技術測量整個樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數，獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數。
薄膜厚度繪圖儀mapping 參考價：面議
這款薄膜厚度繪圖儀采用光譜反射儀技術測量整個樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數，對整個面積上的薄膜厚度繪圖獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數
手持式薄膜測厚儀,薄膜厚度測量儀 參考價：面議
這款手持式薄膜測厚儀是便攜式光學薄膜厚度測量儀,用于透明或半透明單層薄膜或膜系的薄膜厚度測量,薄膜吸收率測量,薄膜透過率測量,薄膜反射率測量,薄膜熒光測量等，這...
光學膜厚儀,光學薄膜測厚儀 參考價：面議
寬帶光學膜厚儀是一款臺式光學薄膜測厚儀,可測量薄膜厚度,測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率,測量薄膜熒光,也可測量膜層厚度,測量薄膜光學常量折射率n...
顯微薄膜測量儀,進口膜厚儀 參考價：面議
這款顯微薄膜測量儀是一款多功能薄膜測厚儀和顯微分光光度計，可以結合顯微鏡測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率以及測量薄膜熒光。這款顯微薄膜測試儀通過測...
便攜式薄膜測厚儀 參考價：面議
這款便攜式薄膜測厚儀是便攜式光學薄膜厚度測量儀,用于透明或半透明單層薄膜或膜系的薄膜厚度測量,薄膜吸收率測量,薄膜透過率測量,薄膜反射率測量,薄膜熒光測量等，這...
光學薄膜測厚儀 參考價：面議
這款光學薄膜測厚儀采用光譜反射計技術測量薄膜反射光譜進測量薄膜厚度和測量薄膜折射率等參數，非常適合日常已知膜系膜堆測量。
進口大型晶圓探針臺 參考價：面議
大型晶圓探針臺600LS是專業為300mm晶圓測試設計的大尺寸晶圓測試探針臺系統,廣泛用于6''晶圓,8''晶圓和12''晶圓探針測試應用。
磁場低溫探針臺 參考價：面議
磁場低溫探針臺采用MicroXact低溫磁探針臺技術,滿足電磁鐵、超導磁體或電磁鐵和超導磁體的組合測試應用。
進口無氦低溫探針臺 參考價：面議
無氦低溫探針臺CPS-CF是為極低溫探針測試設計的閉循環低溫探針臺系統,適合低溫下對器件和電路進行探針測試。
半自動真空探針臺 參考價：面議
這款半自動真空探針臺SPS-2600-VAC和SPS-2800-VAC系列是MicroXact的真空探針系統，設計用于支持在真空或受控氣體環境中對多達100mm...
磁探針臺 參考價：面議
這款磁探針臺可提供三維磁場控制,滿足磁性控制RF探針測試應用.作為磁場探針臺實現了平面磁場的任意操控,方便自旋電子器件探針測試.
進口高溫探針臺 參考價：面議
這款高溫探針臺是為高溫環境器件測試或真空環境或氣體環境器件探針臺分析測試而設計。
閉循環低溫真空探針臺 參考價：面議
這款閉循環低溫真空探針臺是半自動低溫真空探針臺,可在低溫單CCR系統9K，雙CCR系統4.5K和三CCR系統低于4K溫度下測試經驗和器件。
激光切割修復探針臺 參考價：面議
激光切割分析探針臺集成分析探針臺和半導體激光修調trimming系統,適合半導體分析切割,失效分析,半導體修調trimming,結構層移除,標記等諸多應用。
進口半自動探針臺 參考價：面議
這款半自動探針臺廣泛用作電動分析探針臺和半自動晶圓探針臺,可測試200mm晶圓,采用重型多功能探針臺平臺制造,配置靈活多樣,具有加熱制冷晶圓夾盤chuck,體式...
進口半自動晶圓探針臺 參考價：面議
這款半自動晶圓探針臺廣泛用作分析探針臺和RF探針臺,可測試100mm晶圓,性價比高,配置靈活多樣,具有加熱型晶圓夾盤chuck,體式顯微鏡,RF屏蔽箱等諸多配件...
進口晶圓測試探針臺 參考價：面議
這款手動型晶圓探針臺廣泛用作分析探針臺和RF探針臺,可測試200mm晶圓,性價比高,配置靈活多樣,具有加熱型晶圓夾盤chuck,體式顯微鏡,RF屏蔽箱等諸多配件...
進口分析探針臺 參考價：面議
這款手動型分析探針臺廣泛用作晶圓探針臺和RF探針臺,性價比高,配置靈活多樣,具有加熱型晶圓夾盤chuck,體式顯微鏡,RF屏蔽箱等諸多配件可選擇,適合實驗室半導...
進口手動探針臺 參考價：面議
這款手動探針臺適合150mm尺寸晶圓測試,是經濟型探針臺但是具有昂貴探針臺的良好參數性能，結構緊湊而方便使用,非常適合實驗室半導體器件測試和電路測試應用。
微探針臺系統,micro probe 參考價：面議
微探針臺系統micro probe system可植入顯微鏡中,把顯微鏡改造成探針臺系統,實現微操作和微測量功能。
雙面探針臺,PCBA雙面tan測 參考價：面議
雙面探針臺GTL5050解決電路板PCBA雙面探測的困難-輔光儀器雙面探針臺GTL5050解決電路板PCBA雙面探測的困難-輔光儀器雙面探針臺雙面探針臺GTL5...
大面積探針臺,PCBA探針分析測試 參考價：面議
大面積探針臺GTL4060是為較大面積PCBA探針分析測試設計的大面積探針平臺,具有更大的測試平臺，以容納中大型測試板，但仍然能夠在較小的板、插座、連接器和子組...
非接觸式探針臺,探針測試分析系統 參考價：面議
這款非接觸式探針臺是為高頻電子設備、IC和材料測試/表征設計的非接觸式探針測試分析系統。實現了整個毫米波和太赫茲波段電子設備和IC的自動S參數表征。測量范圍為5...
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