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邁可諾技術有限公司
主營產品： 美國Laurell勻膠機,WS1000濕法刻蝕機,Cargille光學凝膠,EDC-650顯影機,NOVASCAN紫外臭氧清洗機 |
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主營產品： 美國Laurell勻膠機,WS1000濕法刻蝕機,Cargille光學凝膠,EDC-650顯影機,NOVASCAN紫外臭氧清洗機 |
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| 產品圖片 | 產品名稱 | |||
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A4P系列A4P四點探針自動電阻率測繪系統 簡單介紹：A4P四點探針自動電阻率測繪系統 A4P系列晶圓電阻率映射器使用經過驗證的行業標準，可以快速，準確，可靠地測量樣品電阻率分布。MicroXact的四點探針通過使電流通過四點探頭的外部點并測量內部點的電壓來測量半導體晶圓層的平均電阻。然后可以通過將薄層電阻乘以薄膜的厚度來找到電阻率的值，即賦予其電阻的材料的性質。 產品型號：A4P系列 所在地：北京市 更新時間：2025-07-01 |
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Model 200-6JFP 引線鍵合機200 簡單介紹：JFP 引線鍵合機200-6適用于在6英寸晶圓上分割元件。功能強大的，無振動，操作簡單，無需過多培訓即可使用。包括數字十字準線的視頻集進行垂直定向； LCD屏幕可顯示參數，可通過編程輪進行選擇。 產品型號：Model 200-6 所在地：北京市 更新時間：2025-07-01 |
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S100JFP鍵合機100Model 簡單介紹：JFP鍵合機100Model適用于3英寸晶圓的劃片 劃片機 100是一款*的設備，設計用于劃分精密模具，例如GaAs和硅芯片。劃片機 100非常靈活，使用劃線和斷裂順序，使成品模具保持清潔，不受損壞。 在斷開模式期間，當線性刀升高以沿著芯線斷裂時，劃片機 100使用聚酯薄膜來保持模具。薄膜可防止模具受到污染或壓力。所有參數均由控制鍵盤設定，設備堅固耐用，無振動，操作簡單，無需過多培訓。 產品型號：S100 所在地：北京市 更新時間：2025-07-01 |
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MPS MiniMPS 環氧樹脂鍵合機 簡單介紹：MPS 環氧樹脂鍵合機 小芯片和SMD零件組裝 MPS 是實現準確揀選和放置的精密設備。 刀架設計，搖頭，為膠合提供了一個簡單的解決方案...... 視頻接口兼容Ultra-HD相機，可調節數字放大倍率，靈活性大，小尺寸和大尺寸芯片都適用。 真正的垂直運動實現了高精度放置和真正的垂直相機定位。 側面攝像頭，提供過程錄像;攝像頭可以任意角度傾斜; 高倍率變焦功能，適用于非常小的設備或關鍵過 產品型號：MPS Mini 所在地：北京市 更新時間：2025-07-01 |
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CNI v3.0-200臺式納米壓印機 簡單介紹：桌面納米壓印機，易于復制微米和納米級結構。 納米壓?。岷妥贤饩€） 直徑高達210mm圓形模板，帶紫外線 150 * 150mm方片模板，采用熱處理工藝 熱壓印 操作簡單直觀 用途廣泛 即插即用 專為研發而設計 產品型號：CNI v3.0-200 所在地：北京市 更新時間：2025-07-01 |
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WB200JFP引線鍵合機 簡單介紹：WB-200系列JFP引線鍵合機作為多功能半自動焊線工具，用于研發，標準和小批量生產。 WB-200提供全手動Z向控制，用于標準設計或簡單維修，無需機械設置； 臺式，尺寸小巧； 所有配置：平面基板，堅固包裝； 強大的視頻/聚焦功能，兼容小鍵合圖案和多鍵高度應用； 軟件訪問不受限制； 這是新一代JFP焊線機，具有增強的功能，是堅固可靠的機械設備。 產品型號：WB200 所在地：北京市 更新時間：2025-07-01 |
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CNI v3.0-100納米壓印機 簡單介紹：CNI v3.0-100是一種非常靈活的納米壓印機。它可提供加熱型納米壓印、UV紫外納米壓印以及真空納米壓印。模塊化系統可根據特定需求輕松配置，體積小，容易存放，大可處理210mm（8英寸）圓形的任何尺寸印章和基材。該系統是手動裝卸印章和模板，但所有處理器都是全自動的，軟件用戶可以*控制壓印過程。 產品型號：CNI v3.0-100 所在地：北京市 更新時間：2025-07-01 |
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PL600NIL納米壓印機 簡單介紹：EZI UV NIL納米壓印機 EZI 紫外曝光納米壓印系統 EZ Imprinting推出了一款臺式獨立納米壓印系統：PL系列400/600. EZImprinting是一種超高產率（ 99％）納米壓印光刻系統，帶有低于10納米的分辨率和一步自動釋放功能。 產品型號：PL600 所在地：北京市 更新時間：2025-07-01 |
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PL400紫外納米壓印機 簡單介紹：EZ Imprinting推出了一款臺式獨立NIL納米壓印PL系列系統：PL系列400/600. EZImprinting是一種超高產率（ 99％）納米壓印光刻系統，帶有低于10納米的分辨率和一步自動釋放功能。 該平臺提供具有微定位夾具的機械平臺，用于安裝納米壓印室，UV固化源和對準顯微鏡。 它即可以作為納米壓印系統，也可以作為傳統的掩模對準器，同時提供可編程的自動控制功能。 產品型號：PL400 所在地：北京市 更新時間：2025-07-01 |
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SEMI-KLEENSEMI-KLEEN 等離子清洗儀 簡單介紹：遠程等離子清潔的原理 遠程等離子源需安裝在要被清潔的真空腔室上，控制器向遠程離子源提供射頻能量。射頻電磁場能激發等離子體，分解輸入氣體而產生氧或氫的活性基，活性基會擴散到下游的真空腔室，并與其中的污染物發生化學反應，反應產物能輕易地被抽走。遠程等離子清洗機可同時清潔真空系統和樣品。 產品型號：SEMI-KLEEN 所在地：北京市 更新時間：2025-07-01 |
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EM-KLEENEM遠程等離子清潔儀 簡單介紹：美國PIE出品的EM遠程等離子清潔儀，廣泛用于SEM掃描電鏡,FIB聚焦離子束雙束電鏡,TEM透射電鏡,XPS_X射線光電子能譜分析儀,ALD原子層沉積系統,CD-SEM, EBR, EBI, EUVL和其它高真空系統，可同時清潔真空腔室和樣品！ 產品型號：EM-KLEEN 所在地：北京市 更新時間：2025-07-01 |
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Tergeo-EMTergeo-EM樣品桿清潔等離子清洗機 簡單介紹：品牌：PIE 型號：Tergeo EM Tergeo EM型樣品桿清潔等離子清潔儀 *的雙清洗模式（immersion和downstream）能夠處理各種不同的樣品，從嚴重污染的電子光學孔徑光闌到各種脆弱易損樣品，如石墨烯、碳納米管、類金剛石碳膜以及多孔碳支持膜銅網上的TEM樣品。石英樣品托板上的孔洞可以安裝標準SEM樣品托。特別設計的適配器可以清潔不同廠家的TEM樣品桿。 產品型號：Tergeo-EM 所在地：北京市 更新時間：2025-07-01 |
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Tergeo-EMTEM透射電鏡等離子清洗機 簡單介紹：專為去除SEM & TEM樣品的碳氫污染而設計。*的雙清洗模式（immersion和downstream）能夠處理各種不同的樣品，從嚴重污染的電子光學孔徑光闌到各種脆弱 產品型號：Tergeo-EM 所在地：北京市 更新時間：2025-07-01 |
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Tergeo EMSEM掃描電鏡等離子清洗機 簡單介紹：Tergeo EM型SEM及TEM樣品/樣品桿清潔等離子清潔儀 美國PIE Scientific專注研發*實驗室用等離子儀器，用于SEM/TEM樣品清潔、光刻膠蝕刻、等離子體增強沉積、表面處理與活化。我們的宗旨是：將半導體和核工程研究中開發的等離子技術集成到經濟實用的實驗室用等離子儀器。 產品型號：Tergeo EM 所在地：北京市 更新時間：2025-07-01 |
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WS-650Mz-23NLaurell-650有機太陽能電池勻膠旋涂儀 簡單介紹：有機太陽電池制備涂膜工藝行業內Laurell-650有機太陽能電池勻膠旋涂儀，從1985年開始，30多年，用戶過百萬！廣發應用于鈣鈦礦太陽能電池薄膜制備，現當前型號WS-650-23N勻膠機，在許多的實驗室可找到！洛桑聯邦理工學院（EPFL）Michael Grätzel教授課題組使用的就是Laurell勻膠機WS-650-23N。 產品型號：WS-650Mz-23N 所在地：武漢市 更新時間：2025-07-01 |
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WS-650Mz-23NLaurell-650鈣鈦礦太陽能電池勻膠機 簡單介紹：Laurell-650鈣鈦礦太陽能電池勻膠機 鈣鈦礦太陽能電池涂膜工藝行業內Laurell勻膠機/Spin Coater，從1985年開始用戶過百 萬！廣發應用于鈣鈦礦太陽能電池薄膜制備，現當前型號WS-650-23B勻膠機，在許多實驗室可找到！洛桑聯邦理工學院（EPFL）Michael Grätzel教授課題組使用的就是Laurell勻膠機WS-650-23N。 產品型號：WS-650Mz-23N 所在地：武漢市 更新時間：2025-07-01 |
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FR-Scanner掃描型薄膜在線測厚儀 簡單介紹：品牌：希臘ThetaMetrisis 名詞：膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關的其他物理量。 產品型號：FR-Scanner 所在地：北京市 更新時間：2025-07-01 |
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FR-pRo基礎型膜厚儀（紫外/近紅外-高分辨率） 簡單介紹：品牌：希臘ThetaMetrisis 名詞：膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關的其他物理量。 產品型號：FR-pRo 所在地：北京市 更新時間：2025-07-01 |
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FR-portable便攜式光學膜厚儀 簡單介紹：品牌：希臘ThetaMetrisis 名詞：膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關的其他物理量。 產品型號：FR-portable 所在地：北京市 更新時間：2025-07-01 |
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FR-uProbe微米級光學薄膜測厚儀 簡單介紹：品牌：希臘ThetaMetrisis 名詞：膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關的其他物理量。測量精度決定于測量光程差的精 產品型號：FR-uProbe 所在地：北京市 更新時間：2025-07-01 |
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