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手持式油品分析儀S1 TITAN Bruker手持式油品分析儀CTX™800/600以及S1TITAN600/800配置的MetalinOil曲線能...
X射線鍍層測厚儀?M1 ORA是適用于珠寶行業的臺式X射線鍍層測厚儀，結構緊湊、占用空間小。M1 ORA能準確測定珠寶類合金的元素組成，分析元素范圍：原子序數2...
材料可靠性鑒別（PMI）在精煉或其它要求在高溫高壓下作業的行業中，工作人員需要對合金材料是否合格以及用料規范進行常規嚴格檢測。據統計，一些精煉廠事故是由金屬材料...
原子力顯微鏡探針(AFM探針)一種具有原子分辨率的表面形貌、電磁性能分析的重要儀器。在表面科學、納米技術領域、生物電子等領域，逐漸發展成為重要的、多功能材的材料...
熱重差熱分析儀Thermo Plus TMA采用一個差示擴展系統來實現測量。理學的技術專長被納入緊湊的機身。TMA要求的不同測量方法可以通過簡單地更換附件進行處...
電荷靈敏前置放大器CUBE（立方）是一種以脈沖復位模式運行的單片電荷靈敏式前置放大器，借助外部電阻器，也可以以連續復位模式運行。
鍍層測厚儀M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術的光譜儀，可對大件樣品和鍍層樣品進行準確的分析。分析的元素范圍：原子序數22號（鈦）-92號（鈾）中的元素。分...
手持式廢舊金屬分析儀手持式熒光光譜儀就是好的手持式廢舊金屬分析儀器，是質量控制（QA/QC）、材料分析（PMI）、土壤環境檢測，礦石分析、混料識別、廢料分揀（R...
反射膜厚儀當一束光入射到薄膜表面時，薄膜上表面和下表面的反射光會發生干涉，干涉的發生與薄膜厚度及光學常數等有關，反射光譜薄膜測厚儀就是基于此原理來測量薄膜厚度。
熱重差熱分析儀Thermo Plus TG-DTA系列的設計在于緊致性和功能性。模塊化設計的基本單元允許在各種環境下靈活安裝。為了差示補償，平衡機制采用三重線圈...
I-V 曲線測試儀PV200為光伏系統提供了一個測試及診斷解決方案，能夠根據IEC 62446標準進行投運試驗，并且根據IEC 61829快速，準確的測試IV曲...
光學輪廓儀ContourGT-XContourGT-X布魯克光學輪廓儀是白光干涉儀，可用于眼科鏡片、醫療器械、高亮度LED、半導體器件、TSV、太陽能電池片、汽...
手持式礦石分析儀布魯克手持式礦石分析儀是Bruker公司的手持式XRF礦石分析儀，對礦石中含有的元素及其含量分析的儀器。無需真空盒氦氣保護。
手持式rohs分析儀S1TITAN600與800號可對無鉛產品進行檢測，也可檢測RoHS合規性，以及玩具和消費產品中的重金屬。且對鉛（Pb）、汞（Hg）、鉻（C...
水質重金屬分析儀全反射X射線熒光法。用這種方法檢測，不需要復雜的前處理步驟，其次檢測速度快，精度高，可達0.1PPb，而且儀器體積小，可以直接帶到現場去檢測，是...
三維光學輪廓儀表面輪廓儀用于加工的表面，薄膜，半導體，眼科，醫療設備，MEMS和摩擦學等領域的測量分析。融合了表征、可定制選
臺階儀-表面輪廓儀德國布魯克DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）可以提供更高的重復性和分辨率，測量重復性可以到5Å。臺階儀這項性能的到了過去四十...
探針式輪廓儀Dektak XTL探針式輪廓儀是一種用于化學、材料科學、電子與通信技術、化學工程領域的分析儀器。分析樣品表面大尺寸三維形貌，探測樣品厚度。
手持式合金分析儀質量控制(QA/QC),材料分析（PMI）,混料識別,廢料分揀(Recycling),牌號識別(Grade ID)等領域檢測設備。
微區X射線熒光成像光譜儀PLUSM4 TORNADO微區X射線熒光成像光譜儀PLUS是能夠檢測出C（6）-Am（95）間元素的微區X射線熒光成像光譜儀。
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