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| 價格區間 | 80萬-100萬 | 應用領域 | 電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
|---|---|---|---|
| 半導體ESD國標標準 | JEDESESDAJEITA |
HANWA HED-C5000R CDM測試設備
ESD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發和半導體制造的最終生產過程中的質量保證都是不可少的。HANWA HED-C5000R CDM測試設備
HED-C5000R
Hanwa CDM測試機
l 符合JEDEC、ESDA、JEITA ，AEC，EIAJ），
l 可快速轉換不同標準的測試
l 臺式尺寸，緊湊，準確可靠的CDM測試儀。
l 配備的CCD攝像機
l 提供FI-CDM和D-CDM模式。
l 可以測量每個引腳的電容。
尺寸：W575 x D400 x H300 Weight 35Kg Compact Desktop Size
此設備是用來測試接觸不同電位物質時的破壞性設備
| 產品名/型號 | 設備說明 | 設備介紹視頻 |
|---|---|---|
 HED-C5000R | 此設備是符合日本及國際標準的高可靠性設備 | click |
符合所有主要國際標準：
標準 | 標準版號 | 模式 | 校準工具 | |
1 | ESDA/JEDEC Joint Standard | AEC101/102 ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014 |
FI-CDM |
Small/Large coin(disk) |
2 |
JEDEC |
JESD22-C101F |
FI-CDM |
Small/Large coin(disk) |
3 |
ESDA |
ANSI/ESD S5.3.1-2009 |
FI-CDM or D-CDM | FI-CDM: 4pF/30pF module (*1) D-CDM: 4pF/30pF module (*2) |
4 |
AEC |
AEC - Q100-011 Rev-C1 |
FI-CDM or D-CDM | FI-CDM: 4pF/30pF module (*1) D-CDM: 4pF/30pF module (*2) |
5 |
JEITA |
JEITA ED-4701/302 (Method 305C) |
D-CDM | Small/Large coin(disk) + FR-4 board |
4
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