雙面探針臺/PCB探針臺 參考價：100000
南京芯測自主研發雙面探針臺和軟件系統提供針對雙面PCB探針臺，阻抗與損耗測試，超高頻汽車雷達，衛星通信，高速光電的PCB探針臺，依托于高度定制化的PCB夾具，高...
2英寸/4英寸低溫探針臺 參考價：10000
桌面型入本級低溫探針臺，高校，研究院，實驗室常備
連續流低溫探針臺 參考價：10000
連續流低溫探針臺
磁場低溫探針臺 參考價：10000
連續流磁場低溫探針臺
閉循環低溫探針臺- 參考價：10000
閉循環低溫探針臺-
手動|MPI 6英寸高功率探針臺 參考價：面議
探針臺制造商的高功率探針臺,大功率探針臺,手動|MPI 6英寸高功率探針臺適用于高功率器件量測和其他多種晶圓量測應用，如組件特性描述和建模，晶圓級可靠性。
全自動板級植球機 參考價：面議
bga植球機，全自動板級植球機MIZAR BM-4500測試提供的BGA/SOCKET植球設備以及高度定制化的方案服務，滿足STRIP類以及單顆產品的高精度、高...
GP200探針臺 參考價：面議
探針臺制造商,GP200探針臺包含DC~THZ測試所需的完整配置，能夠在短時間內準確地完成測試要求。 提供專業的測試方案，能夠實現高品質的I-V、C-V、RF ...
GP300探針臺 參考價：面議
高功率探針臺,GP300探針臺讓您的芯片測試更加簡單，機臺可輕松實現DC ~ THZ測量，提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統方案。
HED-W5100D 全自動晶圓ESD測試機 參考價：面議
晶圓ESD測試機,ESD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發和半導體制造的最終生產過程中的質量保證都是不可少的。HED...
HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設備 參考價：面議
tlp測試設備,TLP靜電測試儀是對保護電路的工作特性進行模擬測試的設備。對集成電路里保護電路的工作參數的收集與分析有很大幫助。也可進行VF-TLP測試
8英寸高低溫探針臺 參考價：面議
高低溫真空探針臺,GP200SE 8英寸高低溫探針臺包含DC~THZ測試所需的完整配置，能夠在最短時間內準確地完成測試要求。提供專業的測試方案，能夠實現高品質的...
GP半自動探針臺 參考價：面議
國產半自動探針臺，GP2000-SE 高低溫探針臺。機臺可輕松實現DC ~ THZ測量，提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統方案?？蓱糜贗-V/C-V/...
HANWA HED-C5000R CDM測試設備 參考價：面議
CDM測試儀,CDM測試設備適用于汽車芯片可靠性測試AEC標準中~靜電CDM測試設備
全自動芯片ESD測試設備 參考價：8000000
Hanwa ESD HED-G5000 全自動芯片ESD測試設備近年來，自動駕駛技術逐漸成為Tier1汽車電子智能系統的超前優良技術，解決自動駕駛技術的關鍵在于...
SiP模塊多芯片裝片機 參考價：2000000
高精度的混合多芯片貼裝，適配復雜模塊單程生產。主要應用于半導體行業的各種模塊貼裝/倒裝，包括光模塊，系統級封裝（SIP），攝像頭模組等。關鍵軸均采用高精度直線電...
多功能芯片分選機 參考價：2000000
支持膜到膜、膜到盒、盒到盒、盒到盒芯片分選，切換更靈活。支持芯片視覺2D檢測，焊頭恒力控制，芯片分選更可靠。
PIV 脈沖IV測試系統 參考價：面議
高功率脈沖PIV測試系統，由MauryMicrowave和AMCAD Engineering提供的IVCAD高級測量和建模軟件支持多種負載牽引技術，包括使用外部...
太赫茲負載牽引系統 參考價：面議
射頻探針臺負載牽引通過有源VMU+軟件，可以搭載keysight的VNA+extender的太赫茲網絡分析儀上，實現非50歐姆環境下，大信號條件下微波全參數測試...
硅光探針臺 參考價：面議
硅光探針臺,GP200-SIP系列8英寸探針臺包含硅光芯片的DC&RF&OO測試所需的完整配置，在短時間內可準確地完成芯片的參數測試與提取。GP200擁有穩定且...
射頻探針 參考價：面議
現代射頻集成電路的設計調試和測試是另一項復雜的任務。 除了射頻輸入和輸出信號外，設備還需要無振蕩偏置以及數字控制信號（例如，用于改變放大器的增益）。所有這些都需...
射頻探針 參考價：面議
現代射頻集成電路的設計調試和測試是另一項復雜的任務。 除了射頻輸入和輸出信號外，設備還需要無振蕩偏置以及數字控制信號（例如，用于改變放大器的增益）。所有這些都需...
射頻探針 參考價：10000
現代射頻集成電路的設計調試和測試是另一項復雜的任務。 除了射頻輸入和輸出信號外，設備還需要無振蕩偏置以及數字控制信號（例如，用于改變放大器的增益）。所有這些都需...
射頻探針 參考價：10000
現代射頻集成電路的設計調試和測試是另一項復雜的任務。 除了射頻輸入和輸出信號外，設備還需要無振蕩偏置以及數字控制信號（例如，用于改變放大器的增益）。所有這些都需...
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