射頻其它配件 參考價：面議
射頻探針臺,進口探針臺的射頻和毫米波測量應用提供了出色的柔性電纜和附件選擇，可實現完整的射頻探頭系統集成。射頻其它配件
探針座配件-探針座 參考價：面議
探針座配件-電動探針座MPI 提供各種無間隙微定位器，可滿足各種操作和測量條件。這些定位器從小尺寸到千分尺驅動的高分辨率定位器，適用于RF和mmW應用。
HED-N5000 全自動ESD測試系統 參考價：面議
芯片ESD測試設備，HED-N5000 全自動ESD測試系統，ESD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發和半導體制造的...
ESD測試機 參考價：面議
芯片ESD測試設備,HANWA HCE-5000ESD測試機是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發和半導體制造的生產過程中的質量保證都是...
功率器件分析儀B1506A 參考價：面議
是德科技功率器件分析儀B1506A提供完整的電路設計解決方案，實現對車規級大功率半導體的高效安全的測試驗證。
光感測器量子效率測量儀 參考價：3000000
SPAD光學傳感器測試設備,光感測器量子效率測量儀， 為了能更好的應用在移動設備上，這些先進光傳感器的組件感光面積越做越小。 但這些應用卻對先進光傳感器的光感測...
GP200-8英寸手動探針臺 參考價：面議
GP200包含DC~THZ測試所需的完整配置，能夠在最短時間內準確地完成測試要求。提供專業的測試方案，能夠實現高品質的I-V、C-V、RF 等測試。
半導體器件參數分析儀 參考價：面議
Keysight B1500A半導體測試設備, 半導體參數分析儀是一款一體化器件表征分析儀，能夠測量 IV、CV、脈沖/動態 IV 等參數。 主機和插入式模塊能...
毫米波測試網分儀 參考價：面議
N5290A和N5291A 是毫米波矢量網絡分析儀（VNA）解決方案的主要配置之一。 這兩個系統均對硬件和選件進行了全面配置，以支持寬帶S參數測量。附加測量應用...
高清晰度示波器 參考價：面議
高清晰度示波器特點8 GHz帶寬4個模擬和16個數字通道借助我們先進的系統架構，實現高達16位的垂直分辨率以最大20 GSa / s的采樣率和100 Mpts ...
波形發生器 參考價：面議
是德高性能任意波形發生器使用低噪聲時鐘，可以提供性能和高質量的信號生成，以實現信號保真度。無論您需要臺式設備或者直接在系統中應用的 AXIe、LXI 或 PXI...
頻譜儀 參考價：面議
· 使用各種硬件平臺滿足不斷變化的測試需求—無論是研發領域追求的最高性能，還是制造環節恰到好處的性能· 利用業界*泛的特定頻譜分析軟件，實施...
信號發生器（信號源） 參考價：面議
· 擁有最多信號發生器的型號可供選擇，并且每個型號的性能都同類產品，因此無論您需要可追溯的計量級解決方案，還是需要經濟高效的基礎型信號發生器，是德科技...
PNA-X 脈沖網絡儀 參考價：面議
PNA-X 脈沖網絡儀使用 PNA-X/PNA/PNA-L 可以獲得功能和性能（頻率高達 120 GHz，通過頻率擴展器可以進一步擴展到 1.5 THz）。
ZEISS 光學微光顯微鏡 參考價：面議
emmi微光顯微鏡,ZEISS 光學微光顯微鏡產品特點：具有優化的操作理念。擁有更高襯度和更高分辨率的新型光學系統。 基于“向前看"理念的升級設計。
掃描電鏡 參考價：面議
掃描電鏡擁有高品質成像和先進分析功能的場發射掃描電子顯微鏡 Sigma 系列。Sigma 系列產品將場發射掃描電子顯微鏡技術與良好的用戶體驗緊密地結合在一起。
半導體場發射掃描電鏡 參考價：面議
GeminiSEM 560 引進了 Gemini 3 型鏡筒，創下了表面成像技術新高度。 Smart Autopilot 這一新型智能自動光路調節引擎是為方便您...
半導體光學/共聚焦顯微鏡 參考價：面議
半導體光學/共聚焦顯微鏡憑借著多年的行業經驗及技術積累，我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設備、微波射頻器件測量等測試技術服務。
德國進口晶圓光學檢測設備 參考價：面議
德國進口晶圓光學檢測設備憑借著多年的行業經驗及技術積累，我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設備、微波射頻器件測量等測試技術服務。
芯片X‘ray檢測設備 參考價：面議
憑借著多年的行業經驗及技術積累，我們可以為客戶提供半導體測試系統解決方案。YXLON X射線檢測機被設計用于為SMT，半導體和實驗室封裝應用領域提供同級別產品中...
芯片封裝焊接強度測試儀 參考價：面議
芯片封裝焊接強度測試儀憑借著多年的行業經驗及技術積累，我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設備、微波射頻器件測量等測試技術服務。
HANWA ESD測試全部設備簡介 參考價：面議
ESD測試設備,芯片ESD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發和半導體制造的最終生產過程中的質量保證都是不可少的。HE...
手動鍵合機 參考價：面議
憑借著多年的行業經驗及技術積累，我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設備、微波射頻器件測量等測試技術服務。手動鍵合機
自動鍵合機 參考價：面議
憑借著多年的行業經驗及技術積累，我們可以為客戶提供半導體在片測試解決方案、材料電性能測試設備、微波射頻器件測量等測試技術服務。自動鍵合機
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