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09-21電化學顯微鏡是一款精密的掃描微電極體系,具有較高空間分辨率,在溶液中可檢測電流或施加電流于微電極與樣品之間。
電化學顯微鏡工作原理掃描振動參比電極系統是利用振動電極和鎖相放大器消除微區掃描中的噪聲干擾,提高測量精度.SVET系統具有高靈敏度,非破壞性,可進行電化學活性測量的特點.它可進行線性或面掃描,研究局部腐蝕(如電蝕和應力腐蝕的產生,發展等),表面涂層及緩蝕劑的評價等方面的研究,掃描振動探針(SVET)是在液態腐蝕環境下,進行腐蝕研究的有力工具,它能檢測小于5uA/cm2的原位腐蝕。電化學顯微鏡是一種基于超微電極的掃描微探針電化學技能,它將一支能夠進行三維方向移動的超微盤電極作為作業探針沉浸在電解質2020
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07-09掃描電化學工作站SECM150進行微米級測量——金上的多孔膜
1.簡介SECM150分辨率很高,其小步長可以低至50nm,這與Bio-Logic的SECM探針性能匹配。SECM150的掃描速率較快,可以在不產生額外的掃描質量損失的情況下較快的獲得測量結果。SECM150的較高分辨率使其成為研究微米尺度的理想工具。本文采用SECM150測量了標準金樣品上的氣孔尺度低于1µm的膜,測量面積為10µm×10µm的區域,分辨率為1µm。2.方法采用SECM150的產生-收集模式dc-SECM測試標準金樣品上的聚碳酸酯多孔膜,分別測試了兩個不同的類型:帶有12µm孔以上信息由企業自行提供,信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責,化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
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