產品概述

入門手動探針臺，用于表面耦合和水平邊緣耦合

FormFactor推出了一種具有成本效益的硅光子學測量解決方案，以支持新興應用的基礎研究工作。該系統的設計是FormFactor多年開發自動光子測量系統的經驗 - 現在根據大學和其他入門用戶的需求量身定制。

MPS150-SiPh 可確保光纖可以精確對準，從而在不發生物理接觸的情況下將光耦合進出設備。MPS150-SiPh 利用其直觀的設計，是經驗不足的用戶發現光子學并獲得高精度測試結果的解決方案。

主要特點

鏡面反射鏡技術

• DUT 支架可實現高精度水平觀察

• CalVue 和 DieVue 使用戶能夠調整光學探頭以實現佳測量性能

• 允許對單根光纖和光纖陣列進行表面耦合和水平邊緣耦合

傾斜底座定位器

• 在 6 個自由度內手動或自動調整入射角

• 利用標準光纖支架

光學性能

• 系統可以配備FormFactor革命性的eVue數字成像系統或高性能SlimVue顯微鏡

• eVue 的革命性設計在光學分辨率、數字變焦和實時運動視頻之間實現平衡。該系統使導航、觀察和測量設備比以往任何時候都更快、更智能。

• SlimVue™ 顯微鏡可減輕光子學集成電路 （PIC） 上小焊盤探測所需的高放大光學元件的機械干擾。

• 該系統使用戶能夠比以往任何時候都更快、更智能地導航、觀察和測量設備

• Spectrum 軟件允許用戶測量 z 位移

模塊化解決方案

• 如果用戶的測量要求發生變化，可以很容易地更換探針硬件

• 提供大的測量靈活性：壓板擴展件可配置為執行 3 端口光子學和/或電氣測量

• 可以配置自動定位器以獲得更快的測量結果。

易用性

• 符合人體工程學的簡單設計，操作舒適輕松

• 直觀的操作工作流程使所有經驗水平的測量都盡可能簡單

• 通過拉出階段快速且符合人體工程學地更換 DUT