SWT-N232C-SANKO山高 雙式膜厚儀 原裝
2025-08-11
 |
SANKO山高 雙式膜厚儀 池田屋原裝
SANKO山高 雙式膜厚儀 池田屋原裝
母材自動識別測量
SWT-NEO-FN：SWT-NEO+SFN-325
探頭兼容。使用簡單的鑰匙即可輕松測量
*探頭單獨出售。
特征
可根據(jù)測量目的選擇連接探頭。
纖薄的機身帶來出色的抓地力。
液晶顯示屏上顯示引導(dǎo)操作流程。
4 個按鍵操作簡單安全。
數(shù)據(jù)可以通過 RS-232C 或 USB 連接傳輸?shù)接嬎銠C。
傾斜支架
目的
噴漆/襯里/電鍍
防蝕鋁等絕緣膜
防蝕鋁等絕緣膜
特征
輕松選擇
只需更換探頭即可輕松測量黑色金屬和有色金屬基材上的膜。
特殊磁極
采用特殊材料超精密加工磁極。與傳統(tǒng)CVD處理磁極相結(jié)合，測量精度進一步提高。
基本型&多功能型
有注重膜厚測量的易懂性和易用性的基本型，以及配備多種功能的多功能型。
操作性
設(shè)計理念基于人體工程學(xué)，例如讓您一目了然的大顯示屏以及易于使用的按鍵布局。
高可靠性
防震結(jié)構(gòu)、特殊磁極、長期老化、完善的售后服務(wù)體系，讓您可以長期放心使用。
規(guī)格
測量范圍
鐵基：0~3.00mm
有色基：0~2.50mm
有色基：0~2.50mm
顯示方式
LCD數(shù)字、顯示保持
顯示分辨率
1μm: 0-999μm
切換
0.1μm: 0-400μm
0.5μm: 400-500μm 0.01mm
: 鐵基 (1.00-3.00mm)
有色基 (1.00-2.50mm)
切換
0.1μm: 0-400μm
0.5μm: 400-500μm 0.01mm
: 鐵基 (1.00-3.00mm)
有色基 (1.00-2.50mm)
測量精度
均勻表面上 0 至 100 μm：±1 μm（黑色金屬和有色金屬）
或指示值的 ±2% 以內(nèi)
101 μm 至 3.00 mm：±2% 以內(nèi)（黑色金屬基底）
101 μm 至 2.50 mm：± ±2% 以內(nèi)2%（有色金屬基）
或指示值的 ±2% 以內(nèi)
101 μm 至 3.00 mm：±2% 以內(nèi)（黑色金屬基底）
101 μm 至 2.50 mm：± ±2% 以內(nèi)2%（有色金屬基）
校準曲線記憶
鐵和有色金屬各一個
電源
AA 堿性電池 (1.5V) x 2 連續(xù)使用時間（25 小時*）
AC 適配器（可選）
，帶自動斷電功能
*最長（可能因使用條件而異）
AC 適配器（可選）
，帶自動斷電功能
*最長（可能因使用條件而異）
工作溫度
0～40℃（無凝結(jié)）
飛機尺寸
72(寬)×30(高)×156(深)毫米
重量
約200g（含電池）
配件
標準厚板、測試歸零板、干電池、收納盒、手帶繩、保修卡/用戶登記表、使用說明書
探測
1點恒壓接觸式，帶V切口，φ15 x 50.9mm
免責聲明：以上所展示的信息由企業(yè)自行提供，內(nèi)容的真實性、準確性和合法性由發(fā)布企業(yè)負責，化工儀器網(wǎng)對此不承擔任何保證責任。
池田屋實業(yè)（深圳）有限公司
相關(guān)供應(yīng)
- SWT-NEOⅡ-現(xiàn)貨SANKO山高 膜厚計
- SWT-NEOⅢ-現(xiàn)貨SANKO山高 雙型膜厚儀
- SWT-NEO-FN-現(xiàn)貨SANKO山高 雙式膜厚儀
- SAMAC-FN-SANKO山高 渦流膜厚計
- SAMAC-Pro-SANKO 便攜式涂層 渦流膜厚
- SWT-NEO-F-SANKO山高 電磁膜厚儀 現(xiàn)貨
- CTR-2000V-SANKO山高 多功能電磁膜厚儀
- 德國FISCHER菲希爾面銅測厚儀
- BCH-1-巖棉板式測厚儀
- KCJ-24C-人造板及飾面保溫板沖擊試驗機
- UDM-570DL-TEITSU帝通 超音波厚度計
- UDM-710A-TEITSU帝通 超音波厚度計
采購中心