現貨SANKO山高 膜厚計
現貨SANKO山高 膜厚計
具有探頭兼容性、內存、統計計算、數據傳輸等功能的高性能型。
*專用探頭單獨出售。(該探頭與 SWT-9000 系列或更早版本不兼容。)
特征
可根據測量目的選擇連接探頭。
液晶顯示屏上顯示引導操作流程。
大容量測量值存儲器(NEOⅡ:20,000點,NEOⅢ:40,000點)。
通過注冊校準曲線輕松調用測量
內置上下限設置及統計計算功能。
數據可以通過USB連接傳輸到計算機。
內置低功率無線輸出(NEO-III)。
傾斜支架
目的
噴漆/襯里/電鍍
防蝕鋁等絕緣膜
防蝕鋁等絕緣膜
特征
輕松選擇
只需更換探頭即可輕松測量黑色金屬和有色金屬基材上的膜。
特殊磁極
采用特殊材料超精密加工磁極。與傳統CVD處理磁極相結合,測量精度進一步提高。
基本型&多功能型
有注重膜厚測量的易懂性和易用性的基本型,以及配備多種功能的多功能型。
操作性
設計理念基于人體工程學,例如讓您一目了然的大顯示屏以及易于使用的按鍵布局。
高可靠性
防震結構、特殊磁極、長期老化、完善的售后服務體系,讓您可以長期放心使用。
規格
NEO-Ⅲ:100個
NEO-Ⅲ:40,000點
AC 適配器 *最大值(可能因使用條件而異)
、使用說明書(包含在驅動程序 CD 中)、AC 適配器、USB 傳輸線、驅動程序 CD
,用于黑色金屬基材(Fe)
,用于有色金屬基材(NFe),
用于黑色金屬基材和有色金屬基材(FN-325)
專用打印機單元(SWT-NEOⅢ)