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2023
06-152023
06-092023
06-07光阻法VS顯微計數法——脂質體注射液不溶性微粒檢測不同方法測試對比
光阻法VS顯微計數法——脂質體注射液不溶性微粒檢測不同方法測試對比研究背景:注射液的不溶性微粒檢測項是中國藥典中的必需檢測項,在2020版《中國藥典0903不溶性微粒檢查》章節(jié)中推薦了兩種檢測方法,包括光阻法和顯微計數法。法規(guī)中對于不同類型的樣品應該采用哪種方法進行檢測給出了一個簡短說明,該文件中指出:光阻法不適用于黏度過高和易析出結晶的制劑,也不適用于進入傳感器時易產生氣泡的注射劑。然而隨著各種新型制劑的出現,僅依據上述對于樣品性狀的描述,很難判斷應該采用哪種方法進行樣品的不溶性微粒檢測。其中2023
05-262023
05-242023
05-182023
05-102023
05-05APS-100超聲法粒度儀在ZnO納米顆粒和ZnO-EG納米流體方面的應用
APS-100超聲法粒度儀在ZnO納米顆粒和ZnO-EG納米流體方面的應用金屬氧化物納米結構因其在太陽能電池、電致發(fā)光器件、電致變色窗口和化學傳感器等許多技術中的潛在應用而引起人們的廣泛關注。此外,聲音通過隨機介質傳播也成為人們關注的課題,這些介質包括膠體懸浮液、多孔材料、磁流變介質和納米流體,其中納米流體由于其在不同領域的廣泛應用而引起了人們的極大興趣。有研究者對ZnO納米顆粒和ZnO-EG、ZnO-water納米流體進行了研究。研究過程中分別采用了XRD、SEM、TEM對ZnO納米顆粒進行表2023
04-272023
04-252023
04-202023
04-192023
04-14原液Zeta電位分析儀用于CMP過程中顆粒電荷對材料去除率影響的檢測
原液高濃度Zeta電位分析儀用于化學機械拋光(CMP)過程中顆粒電荷對材料去除率影響的檢測在宏觀尺度長度下,拋光過程中的材料去除率(dh/dt)被普雷斯頓方程描述為:dh/dt=kpσoVr,其中kp是普雷斯頓系數,σo是施加的壓力,Vr是拋光顆粒相對于工件表面的平均速度。然而,光學拋光過程涉及工件、漿料和搭接之間在多個尺度長度上的一系列復雜的相互作用。因此,普雷斯頓系數代表了眾多拋光參數的集合,包括工件材料、漿料顆粒組成、漿料粒度分布(PSD)、漿料化學、焊盤形貌和焊盤機械性能。這些相互作用及2023
04-072023
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