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2023
11-22

ESD測試設備是靜電放電抗擾度與電磁輻射抗擾度測試的利器
在電子產品日益普及的今天，ESD測試設備成為了質量保證和電磁兼容性測試中*一部分。它主要用于檢測產品在靜電放電和電磁輻射條件下的性能穩定性。ESD測試設備主要分為兩類：靜電放電抗擾度測試設備和電磁輻射抗擾度測試設備。靜電放電抗擾度測試設備主要用于模擬和檢測產品在靜電放電條件下的性能。它通過產生靜電放電模擬器來模擬現實生活中的靜電放電現象，如人體靜電、機器摩擦等。這些模擬器能夠產生不同電壓和放電時間的靜電放電波形，對產品進行多方位的檢測，以確保產品在靜電放電環境下能夠正常工作，不出現誤報、卡頓或是
2023
11-08

脈沖IV測試系統的主要優點
隨著電動汽車和可再生能源產業的快速發展，電池性能測試和評估變得尤為重要。脈沖IV測試系統作為一種先進的電池測試技術，能夠高效、精確地檢測電池的電化學性能和健康狀態。脈沖IV測試系統通過向電池施加一系列脈沖電流，并測量相應的電壓響應，來評估電池的電化學性能。這種測試方法模擬了實際使用條件下電池的動態行為，能夠更準確地反映電池的實際性能。相比傳統的DC(直流)測試方法，該系統具有更高的測試效率和精度，同時還能檢測出電池內部的故障和問題。系統由硬件和軟件兩部分組成。硬件部分包括電源、測試夾具和數據采集
2023
10-24

高低溫探針臺是研究超導和低溫物理的重要工具
高低溫探針臺是一種在超導和低溫環境下進行科學研究的實驗設備，對于研究超導和低溫物理具有重要意義。超導現象是指某些材料在低溫下電阻為零的現象，而低溫環境則是實現這一現象的重要條件。它的主要作用是在超導和低溫環境下對材料進行測量和分析。它可以在極低的溫度下對材料進行測量，并且可以在測量過程中對溫度進行精確控制，從而獲得更準確的實驗數據。高低溫探針臺的結構包括以下幾個部分：制冷系統：需要使用制冷劑來制造低溫環境，通常使用液氦或液氮作為制冷劑。制冷系統包括一個低溫容器和一套制冷設備，用于將溫度降低到所需
2023
10-16

高低溫探針臺的構造與工作原理
高低溫探針臺是一種用于材料科學、物理、化學等領域的實驗設備，主要用于在高溫和低溫環境下對材料進行各種實驗和研究。下面是它的構造和工作原理。一、主要包括以下幾個部分：制冷系統：通常采用液氦或制冷機等制冷技術，將溫度降低到極低的溫度范圍，以適應低溫實驗的要求。加熱系統：為了在不同的溫度下進行實驗，高低溫探針臺通常配備有加熱系統，例如電熱絲或電阻爐等加熱裝置。溫度控制系統：通常采用先進的溫度控制系統，如PID控制器或模糊邏輯控制器等，以實現對溫度的精確控制和穩定。探針臺：通常配備有各種類型的探針，如電
2023
09-24

芯片分選機實現了全自動化操作
芯片分選機是一種用于將不同規格、型號和質量的芯片自動分揀和分類的設備。它主要由供料裝置、分選裝置和收集裝置等組成，能夠實現對芯片的高效、準確分選。它廣泛應用于半導體、電子制造等領域中，為實現大規模、高效的生產提供了重要的技術支持。供料裝置是設備的入口，它通過振動盤、料倉等將芯片按照預設的軌道進行排列，并將其送入分選裝置。分選裝置是核心部分，它通過一系列的傳感器、電磁鐵和機械手等部件，實現對芯片的識別、分類和分揀。根據芯片的不同規格、型號和質量，分選裝置會將其送入不同的收集裝置中。收集裝置是設備的
2023
09-18

全自動探針臺的結構包括以下幾個主要部分
全自動探針臺是一種用于半導體行業的重要設備，主要用于在制造集成電路的過程中對芯片進行測試和驗證。探針是用來與芯片上的接觸點進行接觸并測試其性能的工具，而探針臺則是用于控制探針的精確位置和操作，以及進行數據采集和處理的重要設備。全自動探針臺的結構包括以下幾個主要部分：機械系統：機械系統是核心部分，它包括一個精密的XYZ坐標系，用于控制探針的移動。這個坐標系通常由高精度的直線導軌、伺服電機和光學編碼器組成。此外，機械系統還包括一個可以容納多個探針的探針座，以及一個可以自動更換探針的裝置。光學系統：光
2023
08-25

高低溫半自動探針臺是精確測試與可靠性驗證的關鍵設備
高低溫半自動探針臺是一種用于進行溫度相關測試和可靠性驗證的關鍵設備。本文將介紹該設備的作用、原理以及在科研和工業領域中的重要性。在科學研究和工業生產中，溫度對于材料和器件的性能具有重要影響。高低溫半自動探針臺提供了一個控制溫度環境的平臺，使得研究人員和工程師能夠對材料、電子元件等進行精確的溫度相關測試。這些測試可以包括電特性測量、熱傳導性能評估、溫度應力測試等。該設備的基本原理是通過加熱和冷卻系統控制探針臺上的溫度，并通過測量和監控溫度變化來實現精確的控制。半自動探針臺通常配備有多個探針接口，可
2023
08-14

MPI探針臺：高效無損檢測解決方案
MPI探針臺是一種專用設備，用于進行磁粉無損檢測。磁粉無損檢測是一種常用的材料和零部件質量檢測方法，通過利用磁場和磁粉的相互作用，檢測材料中的表面和近表面缺陷。結合了先進的磁粉無損檢測技術和高效的自動化操作，提供了一種快速、準確的無損檢測解決方案。工作原理是利用磁場對被測物體進行磁化，然后施加磁粉，通過觀察磁粉在缺陷處的聚集情況來判斷是否存在缺陷。探針臺通過控制磁場的強度和方向，以及磁粉的施加方式，實現對被測物體的全面檢測。同時，探針臺配備了高分辨率的圖像采集系統和圖像處理軟件，可以對檢測結果進
2023
04-20

探針臺主要檢測什么？
一、半導體行業、光電行業、集成電路以及封裝的測試。廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發，旨在確保質量及可靠性，并縮減研發時間和器件制造工藝的成本。二、維護與保養：(1)相對于平面電機工作臺，絲杠導軌結構的工作臺結構組成較復雜，工作臺由上層(x向)及下層(y向)兩部分組成。工作臺由兩個步進電機分別驅動x、y向精密滾珠絲杠副帶動工作臺運動，導向部分采用精密直線滾動導軌。(2)由于運動部分全部采用滾動功能部件，所以具有傳動效率高、摩擦力矩小，使用壽命長等特點。這種結構的工作臺應放置在溫度23±
2023
03-15

半導體測試設備的簡介
一、應用原理：(1)探針卡(probecard)探針卡是自動測試機與待測器件(DUT)之間的接口,在電學測試中通過探針傳遞進出wafer的電流。(2)探針臺(prober)因此測試對于檢驗芯片的功能性來說是一項非常重要的工作,硅片測試能夠分辨一個好的芯片和一個有缺陷的芯片。RDON是VDMOS在導通狀態下漏源之間的導通電阻。二、發展背景介紹：(1)半導體檢測貫穿半導體設計、晶圓制造、封裝三大流程。半導體制造工藝十分復雜，包含成百上千道工序，每一道出錯都可能影響芯片功效。為了提高良率、控制成本，需
2023
01-13

什么是微波射頻測量設備
一、包含有太赫茲有源負載牽引系統、Maury微波校準件、Maury微波適配器、微波射頻測試附件、波導轉接頭、同軸轉接頭、高速調諧器Tuner、自動阻抗調諧器、負載牽引、Loadpull、阻抗-MT2000混合信號有源負載牽等。二、直流電源的基本功能是提供穩定純凈的直流電源，設置電壓源或電流源，功率分析測量功能，監測輸出電壓和電流，輸出電壓、電流、功率變化的高速分析采集記錄輸出電壓波形編輯，負載變化快速恢復功能脈沖電源設置。三、功率計是射頻信號功率測量的標準設備。功率計不能區分信號頻率，測量工作帶
2023
01-10

探針臺探針的三種清洗方法
探針臺探針是電測試的接觸媒介，為電子五金元器件。探針臺可以將電探針、光學探針或射頻探針放置在硅晶片上，從而可以與測試儀器、半導體測試系統配合來測試芯、半導體器件。這些測試可以很簡單，例如連續性或隔離檢查。也可以很復雜，包括微電路的完整功能測試。可以在將晶圓鋸成單個管芯之前或之后進行測試。在晶圓級別的測試允許制造商在生產過程中多次測試芯片器件，這可以提供有關哪些工藝步驟將缺陷引入產品的信息。它還使制造商能夠在封裝之前測試管芯，這在封裝成本相對于器件成本高的應用中很重要。探針臺還可以用于研發、產品開
2023
01-06

ESD測試介紹
ESD測試即靜電放電測試。ESD測試在芯片和系統設計中是一項很重要的指標，通常暴露在外面的接口更要注意靜電防護。靜電放電(ESD)是一種自然現象，經驗表明，人在合成纖維的地毯上行走時，通過鞋子與地毯的摩擦，只要行走幾步，人體上積累的電荷就可以達到10-6庫侖以上(這取決于鞋子與地毯之間的電阻)，在這樣一個"系統"里(人/地毯/大地)的平均電容約為幾十至上百pF，可能產生的電壓要達到15kV。研究不同的人體產生的靜電放電，會有許多不同的電流脈沖，電流波形的上升時間在100ps至30ns之間。工程師
2022
12-16

晶圓探針臺的檢測流程
晶圓探針臺是在半導體開發和制造過程中用于檢測晶圓電氣特性的設備。電氣測試包括通過探針或探針卡將測試信號從測定器或測試儀發送到晶圓上的各個器件，并得到各器件的信號反饋。這個時候，用于晶圓搬送并與事先設定的位置進行接觸的設備稱為晶圓探針臺。它能夠滿足12英寸、8英寸晶圓的測試需求，通過高精度定位平臺、高剛性晶圓承載臺和高分辨率仰視相機(探針相機)及俯視相機(晶圓相機)，實現全自動上下晶圓料片、對針和高精度扎針，與測試機配合完成對晶圓上集成電路的品質檢測。圓測試是在半導體器件制造過程中執行的一個步驟。
2022
12-07

探針臺的使用環境說明
探針臺是一種成熟的工具，用于測試硅晶片、裸片和開放式微芯片上的電路和設備。它允許用戶將電子、光學或射頻探針放置在設備上，然后測試該設備對外部刺激(電子、光學或射頻)的響應。這些測試可以很簡單，例如連續性或隔離檢查，也可以更復雜，涉及復雜微電路的全功能測試。它的應用行業有許多，常見的包括半導體、光電以及集成電路等行業，半導體企業不僅有效促進了經濟發展。主要用于半導體材料、微納米器件、磁性材料、自旋電子器件及相關技術領域的電、磁學特性測試，能夠提供磁場或變溫環境，并進行高精度的直流/射頻測量。可以在
2022
12-05

探針臺的發展原理
一、探針臺從操作上來區分有：手動，半自動，全自動二、從功能上來區分有：溫控探針臺，真空探針臺(超低溫探針臺)，RF探針臺，LCD平板探針臺，霍爾效應探針臺，表面電阻率探針臺三、經濟手動型：(1)根據客戶需求定制(2)chuck尺寸：4"*4"6"*6"8"*8"12"*12"(可選)(3)X-Y移動行程：4"*4"6"*6"8"*8"12"*12"(可選)(4)chuckZ軸方向升降10mm(選項)方便探針與樣品快速分離(5)顯微鏡：金相顯微鏡、體式顯微鏡、單筒顯微鏡(可選)(6)顯微鏡移動方式
2022
11-23

如何去選擇芯片分選機？
芯片分選機基于最新高新科技設計，可以提供高產出、高精準度的一站式IC測試解決方案，它適合Tray入料，卷帶（Reel）出料的進出料形式，可針對各種封裝形式的IC進行外觀檢測。該設備已經取得了很大的技術進步，未來將在設備的每小時產能、適用的芯片封裝種類、換測時間以及系統的穩定性等方面取得重要的成果。如今隨著經濟的不斷發展，用工成本越來越高，尤其在產品分級方面，高昂的人工費用讓很多工廠企業越來越吃不消。自動化分級必將成為未來的大趨勢。反觀目前的重量分選機市場，魚龍混雜，不少有分級需求的工廠企業被設備
2022
11-10

emmi微光顯微鏡是一款效率高的分析工具
emmi微光顯微鏡是利用高增益相機/探測器來檢測由某些半導體器件缺陷/失效發出的微量光子的一種設備。當對樣品施加適當電壓時，其失效點會因加速載流子散射或電子-空穴對的復合而釋放特定波長的光子。這些光子經過收集和圖像處理后，就可以得到一張信號圖。撤去對樣品施加的電壓后，再收集一張背景圖，把信號圖和背景圖疊加之后，就可以定位發光點的位置，從而實現對失效點的定位。對于故障分析而言，微光顯微鏡是一種相當有用且效率高的分析工具。主要偵測IC內部所放出光子。在IC元件中，EHPRecombination會放
2022
11-04

波形發生器簡單了解
一、介紹：(1)波形發生器是一種數據信號發生器，在調試硬件時，常常需要加入一些信號，以觀察電路工作是否正常。用一般的信號發生器，不但笨重，而且只發一些簡單的波形，不能滿足需要。(2)例如用戶要調試串口通信程序時，就要在計算機上寫好一段程序，再用線連接計算機和用戶實驗板，如果不正常，不知道是通訊線有問題還是程序有問題。用E2000/L的波形發生器功能，就可以定義串口數據。通過邏輯探勾輸出，調試起來簡單快捷。二、設計原理：1.要求:產生頻率在1HZ--20KHZ幅度0--5V的方波,三角波,正弦波,
2022
10-13

了解探針臺溫控有哪些功能
探針臺溫控是一款溫度范圍-190℃-600℃的溫控探針臺，通過杠桿式支架，使用的是彎針探針。使用時還可對樣品氣氛進行控制。這樣既可以保證，即使在極低溫度下，腔體也不產生結霜影響實驗，又可以防止樣品發生氧化。相比傳統的直針探針，這種設計不僅點針更準確，而且點針力度更大，和樣品的電接觸性更好。功能特點：1、可編程精密控溫。可獨立控制，也可從上位機軟件控制；2、探針需開蓋移動，樣品臺面電接地；3、探針，分別導通冷熱臺外殼上的4個BNC接口；4、杠桿式探針支架，點針力度更大，電接觸性更好；5、彎針探針，

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