SEM納米探針臺產品實現了三維空間上的準確定位， 它具有分辨率高，尺寸緊湊，行程大，操作簡單，能在真空下使用等優點，可應于SEM真空腔體內完成各種納米精度運動操作。

SEM納米探針臺產品使用壓電陶瓷驅動，運無需潤滑，百分真空兼容，并可在很廣的溫度范圍內工作。運動分辨率達到納米級。步進和掃描雙模式工作，在宏觀行程范圍內達到亞納米分辨率的定位。

三軸探針臺由三個單軸運動臺組合而成。一SEM腔體內可安裝多個三軸探針臺。平上可安裝電學探針、光纖探針、納米鑷子、金剛石納米力壓頭、顯微注射器等各類操縱和測量頭，實現微納操縱和測量的目的。

• 主要參數

▲ 兼容性：適配多種鎢燈絲、場發射SEM，保證電鏡安全性

▲ 探針驅動方式：PZT壓電陶瓷

▲ XYZ行程：XY軸行程≥±10mm，Z軸行程≥10mm

▲ 細調行程：3um

▲ 細調最小步長：≤1nm

▲ 控制模式：開環/閉環

▲ 探針數量：最多支持8探針

▲ 制冷系統（選配功能）：熱臺200℃；冷臺-60℃（TEC）；冷臺-170℃（液氮）

• 主要配置

壓電探針臺、壓電三軸位移控制器、PC+軟件（閉環選配）、壓電冷臺（選配）、手提箱、源表（選配）、制冷系統（選配）、定制適配電鏡法蘭、工具附件等

• 產品特點

▲ 結構緊湊，高剛性

▲ 零間隙，高精度柔性鉸鏈導向系統

▲ 壓電陶瓷位移平臺具有超長使用壽命

▲ 內部根據需求可增加位置反饋

▲ 應用：納米材料操縱、納米器件電學光電等物性測量、生物細胞DNA操作等

▲ 適配SEM：日本電子、 日立、FEI、 TESCAN等

• 應用案例

電容樣品測試

電容樣品測試

碳纖維測試

器件測試

薄層材料測試