HR24-光電測(cè)試加熱探針臺(tái)測(cè)試儀
2025-07-26
 |
特點(diǎn)：
★ 升溫速度可精確控制，精度達(dá)±0.25℃
★ 體積小巧，占地空間小
★ 真空漏率優(yōu)秀，真空度高
★ 探針?lè)N類豐富，可根據(jù)用戶需求進(jìn)行定制
★ 模塊化設(shè)計(jì)，可根據(jù)客戶要求定制
用途：
光電測(cè)試加熱探針臺(tái)測(cè)試儀，用于芯片、氣敏元器件等在不同氣氛環(huán)境下電學(xué)性能，也可用于材料分析。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體電學(xué)性能測(cè)試、物理研究、氣敏分析、鋰電池測(cè)試、LED、LCD、二維材料測(cè)試、電鏡掃描、太陽(yáng)能電池等行業(yè)的制造和研究領(lǐng)等系統(tǒng)中的重要部件。
光電測(cè)試加熱探針臺(tái)測(cè)試儀產(chǎn)品規(guī)格參數(shù)：
項(xiàng)目 | 訂貨代碼 | HR24-4 | HR24-6 |
主體 | HR24-4 | 腔體材質(zhì)：AL6061 (可定制SUS304腔體) 通光口直徑：φ5mm | |
HR24-6 | |||
探針組件 （單組價(jià)格） | V2 | 真空型同軸接口探針夾具（普通型，需要抽真空時(shí)選擇） | |
V3 | 真空型三軸接口探針夾具（抗干擾性強(qiáng)，應(yīng)用于半導(dǎo)體，需要抽真空時(shí)選擇） | ||
探針規(guī)格 | 000T | 鍍金，50μm(可選：1μm、5μm、10μm、20μm、50μm、100μm、200μm) 例：010T代表10μm尺寸的探針。 | |
信號(hào)線纜 | R1 | 單頭甩空線 | |
R2 | 雙頭線 | ||
水冷機(jī) | W | 溫度高于200℃范圍需要配置水冷機(jī) | |
高溫控制系統(tǒng) | H | 高溫控制器:RT～600℃，控制精度±0.25℃，分辨率0.1℃ | |
真空系統(tǒng) | MP | 機(jī)械泵（飛躍）:2.2L/S(真空度1*10-1Pa)（不包含真空計(jì)） | |
TP | 分子泵組（Leybold）:90L/S(真空度5*10-5Pa) 復(fù)合真空計(jì)（Leybold ):PTR90(大氣至5*10-7Pa)主體需要采用 不銹鋼材質(zhì)，才能抽到高真空 | ||
顯微鏡 | PM | 體式顯微鏡:ZOOM645S（環(huán)形光源） | |
CM | CCD：200萬(wàn)像素 | ||
DP | 戴爾顯示器：21寸 | ||
SJ | 視頻顯微鏡+10寸顯示屏（100萬(wàn)像素） | ||
光催化氙燈光源 | XL | CEL-PF300-T6(20個(gè)太陽(yáng)光) | |
深圳市江麥智能科技有限公司
- CPX系列-Lakeshore低溫探針臺(tái)
- CRX-4-CRX-VF無(wú)液氦超導(dǎo)磁體探針臺(tái)
- CRX-6.5K-無(wú)液氦低溫探針臺(tái)/4寸
- CM300xi型-Formfactor探針臺(tái)
- CAPELLA系列-MPI 探針臺(tái)
- MPS150-Formfactor手動(dòng)探針臺(tái)
- XYZ模塊化高溫探針臺(tái)
- XYZ模塊化變溫探針臺(tái)
- 微型線軌探針冷熱臺(tái)
- 國(guó)產(chǎn)手動(dòng)高溫真空探針臺(tái) 晶圓檢測(cè) 氣敏
- HP24-高溫探針臺(tái)測(cè)試儀
- VS21-真空探針臺(tái)測(cè)試儀
采購(gòu)中心